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龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利非阻挡式束流三维剖面测量装置及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120742390B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511197881.5，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权非阻挡式束流三维剖面测量装置及其测量方法是由谢宏明;武军霞;杜泽;李志学;何珮琳;尹佳;李丽莉;朱光宇;张雍;杨建成设计研发完成，并于2025-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本非阻挡式束流三维剖面测量装置及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及粒子探测技术领域，提供一种非阻挡式束流三维剖面测量装置及其测量方法，装置中测量主体的内部构造有第一腔室和第二腔室，第一腔室和第二腔室之间设有第一狭缝，第二腔室的底壁设有第二狭缝；测量主体上相贯设置有束流入口通道和束流出口通道，束流入口通道和束流出口通道均与第一腔室连通；静电磁场组件设于第一腔室；射频偏转组件设于第二腔室，射频偏转组件形成有射频电场；束流剖面测量部件用于使信号电子倍增放大，并进行电‑光转换后被成像探测器捕获，以对束流剖面进行测量；束团长度测量部件设于测量主体上，并位于第二狭缝所在位置的下方，用于对信号电子进行倍增放大和I‑V转换，并配合射频功率扫相来实现束团长度测量。

本发明授权非阻挡式束流三维剖面测量装置及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种非阻挡式束流三维剖面测量装置，其特征在于，包括： 测量主体，内部构造有第一腔室和第二腔室，所述第一腔室和所述第二腔室之间设有第一狭缝，所述第二腔室的底壁设有第二狭缝；所述测量主体上相贯设置有束流入口通道和束流出口通道，所述束流入口通道和所述束流出口通道均与所述第一腔室连通； 静电磁场组件，设于所述第一腔室，所述静电磁场组件形成有静电磁场，所述静电磁场用于驱动束流与残余气体电离产生的信号电子穿过所述第一狭缝，向第二腔室及探测端运动； 射频偏转组件，设于所述第二腔室，所述射频偏转组件根据加压方式不同，可形成静电场或射频电场，所述静电场用于对电子进行静电场扫描，以实现二维剖面测量，所述射频电场用于对电子进行射频交变场扫描，以实现束团长度测量； 束流剖面测量部件，设于所述射频偏转组件的一侧，用于使信号电子进行倍增放大，并进行电-光转换后被成像探测器捕获，以对束流剖面进行测量； 束团长度测量部件，设于所述测量主体上，并位于所述第二狭缝所在位置的下方，所述束团长度测量部件用于对信号电子进行倍增放大和I-V转换，并配合射频功率相位扫描来实现束团长度测量。

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