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龙图腾网获悉华东理工大学申请的专利基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120870342B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511385743.X，技术领域涉及：G01N29/06；该发明授权基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法是由项延训;刘立帅;郑鹏;李璇设计研发完成，并于2025-09-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法在说明书摘要公布了：本发明提供了基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法,具体涉及材料监测技术领域。该方法具体包括：S1.对待测构件表面进行传感器的布设；S2.设定信号激励端及信号接收端；S3.分别对信号激励端进行信号发射并采集信号接收端的接收信号，对采集信号进行误差预处理；S4.进行快速傅里叶变换分析并获取静态分量能量值；S5.计算非线性损伤指数；S6.基于由圆形阵列或正交扫查式阵列形成的检测网格，将非线性损伤指数作为参数嵌入RAPID椭圆定位算法，对成像区域的检测网格像素值进行计算与填充，生成微损伤层析图像。本发明通过非线性损伤指数结合RAPID椭圆层析算法，可实现对待监测结构内部微裂纹、分层缺陷等毫米级的定位成像。

本发明授权基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法在权利要求书中公布了：1.基于非线性超声静态分量损伤指数的微损伤层析成像方法，其特征在于，具体包括以下步骤： S1.选用圆形阵列或正交扫查式阵列中的一种对待测构件表面进行传感器的布设； 所述圆形阵列是将各传感器按照直径为的圆形结构进行布置，所述圆形阵列的阵元数量个； 所述正交扫查式阵列是将待测构件的其中一个面作为扫查区域并将两个传感器分别设置在扫查区域相邻两个边角位置； 其中，所述圆形阵列的直径满足；所述正交扫查式阵列两个传感器之间的间距满足；波长,为信号激励端发射频率的相速度，为信号激励端的发射频率； S2.设定信号激励端及信号接收端； S3.分别对信号激励端进行信号发射并采集信号接收端的接收信号，将接收信号经过放大器传输至示波器，示波器采集信号上传至PC数据处理终端并对采集到的信号进行误差预处理； S4.基于S3误差预处理后的信号进行快速傅里叶变换分析并获取静态分量能量值； S5.计算非线性损伤指数：； 其中，为低振幅激励信号激励下的静态分量能量；为高振幅激励信号激励下的静态分量能量；为信号激励端发射信号幅值的放大系数，即信号激励端入射波的高低振幅之比，； S6.基于由圆形阵列或正交扫查式阵列形成的检测网格，将非线性损伤指数作为参数嵌入RAPID椭圆定位算法，对成像区域的检测网格像素值进行计算与填充，生成微损伤层析图像。

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