武汉光迅科技股份有限公司刘文俊获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉光迅科技股份有限公司申请的专利一种多通道PD测试方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114994491B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210670836.7，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种多通道PD测试方法和系统是由刘文俊;高倩;郭路;王文刚;闵玉岚;梁凉;吴晓平;张晋军;江兵;何小龙设计研发完成，并于2022-06-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种多通道PD测试方法和系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种多通道PD测试方法和系统。其方法部分主要包括：设置若干个光测试接口位与若干个待测PD一一对应，并设置若干个开关口与若干个光测试接口位一一对应；依次接通每个开关口，以对每个待测PD进行测试，基于待测PD是否通过测试来标记其中测试正常的光测试接口位以及测试不正常的光测试接口位；将通过测试的待测PD复用到测试不正常的光测试接口位，并参加下一轮测试，以通过下一轮测试的结果确定之前测试不正常的光测试接口位是否存在问题。本发明可以解决测试位测试失误以及轻易弃用失常测试位的问题。
本发明授权一种多通道PD测试方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种多通道PD测试方法，其特征在于，包括： 设置若干个光测试接口位与若干个待测PD一一对应，并设置若干个开关口与若干个光测试接口位一一对应； 依次接通每个开关口，以对每个待测PD进行测试，基于待测PD是否通过测试来标记其中测试正常的光测试接口位以及测试不正常的光测试接口位； 将通过测试的待测PD复用到测试不正常的光测试接口位，并参加下一轮测试，以通过下一轮测试的结果确定之前测试不正常的光测试接口位是否存在问题； 所述方法还包括：获取通过测试的待测PD所输出的光功率并标记为正常光功率；调节存在问题的光测试接口位的输入光功率，以尝试使该存在问题的光测试接口位所对应的待测PD通过测试并输出正常光功率；若尝试成功，则确定为可以通过调节光功率来实现对相应光测试接口位稳定性的弥补，若尝试不成功，则确定为不可以通过调节光功率来实现对相应光测试接口位稳定性的弥补。
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