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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115839929B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211355218.X，技术领域涉及：G01N21/39；该发明授权一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统是由韦可;刘祺瑞;江天;郝昊;唐宇翔;李思维;程湘爱设计研发完成，并于2022-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统，包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机；所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接，用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。本发明具有超高时间分辨、高空间分辨、无需制样、非接触式测量等优势。

本发明授权一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统在权利要求书中公布了：1.一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统，其特征在于，包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机； 所述飞秒脉冲激光源用于提供产生泵浦光和探测光的光源； 所述第一分束器用于将飞秒激光源分入泵浦光和探测光两条光路； 所述第二分束器用于将泵浦光分入第一泵浦光和第二泵浦光两条光路； 所述第三分束器用于透射探测光并反射从样品返回的探测光； 所述第一合束器用以第一泵浦光和第二泵浦光的合束； 所述第二合束器用于在探测光波长范围内透射、在泵浦光波长范围内反射以及探测光、第二泵浦光和第一泵浦光的合束； 所述泵浦光路组件设于泵浦光路上，用于输出泵浦光以及调节第一和第二泵浦光之间的脉冲延时； 所述探测光路组件设于探测光路上，用于输出探测光以及调节探测光与两束泵浦光之间的脉冲延时； 所述微区样品成像模块设于第二合束器的合束一端，用于样品成像； 所述信号探测模块设于斩波器一端，用于完成泵浦-探测信号的再生和放大； 所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接，用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能； 所述泵浦光路组件包括依次设置于泵浦光路上的泵浦光参量放大器、第一半波片、偏振器和反射镜，设于反射镜反射光路上的凸透镜对、第一衰减器，设于第一泵浦光路上的泵浦光程调节器，所述第二分束器位于凸透镜对和第一衰减器之间，第二衰减器位于第二泵浦光上，所述泵浦光参量放大器用于输出波长、脉宽可调谐的泵浦光，所述第一半波片和偏振器用于组合输出具有高光强和线偏振度的泵浦光，所述反射镜用于调整光路走向，调整第二泵浦光所在光路的多个反射镜可将第二泵浦光聚焦到远离第一泵浦光光斑的另一样品表面位置，所述凸透镜对用于调整激光的发散程度，所述第一衰减器和第二衰减器用于调整泵浦光的光强，所述斩波器用于泵浦光的频率调制，输出频率参考信号以实现同步测量，所述泵浦光程调节器用于调节第一和第二泵浦光之间的脉冲延时； 所述探测光路组件包括依次设于探测光路上的探测光参量放大器、啁啾反射镜对、第三衰减器、第二半波片、第二偏振器、探测光程调节器和二维扫描振镜，所述探测光参量放大器用于输出波长、脉宽可调谐的探测光，所述啁啾反射镜对用于补偿系统光路和光参量放大器各元件组成对探测光带来的色散展宽，所述第三衰减器用于调整探测光的光强，所述第二半波片和第二偏振器用于组合输出具有较高光强和线偏振度的探测光，所述探测光程调节器用于调节探测光与两束泵浦光之间的脉冲延时，所述二维扫描振镜通过电学伺服控制在两个方向实现出射角的微小变化对探测光实现二维空间分辨的扫描作用。

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