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龙图腾网获悉天津大学申请的专利一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116399834B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310382004.X，技术领域涉及：G01N21/552；该发明授权一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备是由房丰洲;王颖墨设计研发完成，并于2023-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及精密视觉测量技术领域，特别是涉及一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备。该方法包括如下步骤：基于反射式相位偏折术获取待测物目标形面的实际点云数据P。获取待测物目标形面的设计点云数据Q。根据Q及P，确定旋转转化系数R*及平移转化系数T*。根据P、R*及T*，生成初始待测点云数据Q’。根据Q’中包含的多个点的位置坐标，生成目标待测面形数据。对目标待测面形数据进行光学性能检测，生成待测物目标形面的光学性能数据。本发明可以直接对被测零件的光学性能进行更加全面准确的测量与评价，摆脱了现有技术中，仅对被测零件面形误差、斜率误差、曲率误差进行评价的不直观性。

本发明授权一种基于相位偏折术的光学性能检测方法、介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种基于相位偏折术的光学性能检测方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 基于反射式相位偏折术获取待测物目标形面的实际点云数据P； 获取所述待测物目标形面的设计点云数据Q； 根据Q及P，确定旋转转化系数R*及平移转化系数T*；其中，R*及T*满足如下条件： ； 其中，为二范数的最小值函数；Ri及Ti分别为第i次迭代时的旋转转化系数及平移转化系数；R*及T*用以将测量结果对应的坐标系转换至光学设计文件所在的设计坐标系中，并生成实际的待测物的面形数据； 根据P、R*及T*，生成初始待测点云数据Q’；Q’满足如下条件：； 根据Q’中包含的多个点的位置坐标，生成目标待测面形数据； 对所述目标待测面形数据进行光学性能检测，生成所述待测物目标形面的光学性能数据，光学性能包含畸变、鬼像、重影、均匀度、分辨率、调制传递函数及像差； 基于最小二乘法、梯度下降法、主成分分析法及迭代最近点法中的任意一种优化算法，对Q及P进行比对处理，生成旋转转化系数R*及平移转化系数T*；采用光学表面及定位结构同时进行比对处理，以消减面型误差及定位误差； 对Q及P进行比对处理，包括： 对Q及P中光学表面部分的数据进行比对处理；和 对Q及P中定位结构部分的数据进行比对处理； 对所述目标待测面形数据进行光学性能检测，生成所述待测物目标形面的光学性能数据，包括： 将XY扩展多项式曲面数据输入Zemax检测软件中，生成所述待测物目标形面的光学性能数据。

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