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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119594892B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411741303.9，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统是由贺碧蛟;尘琛;吴成赓;翁惠焱;蔡国飙设计研发完成，并于2024-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统，涉及航天测量技术领域，包括：实验喷管、模拟月壤容器、模拟月壤、结构光投影仪、高速相机与图像标定装置；所述实验喷管上游通过输送管路与真空舱外的气瓶连接，模拟月壤容器包括侧壁面斜劈，模拟月壤位于模拟月壤容器的内部，结构光投影仪用于将已编码的光条纹图案精确投射到凹坑表面上，高速相机安装在侧壁面斜劈的上方，用于拍摄被凹坑表面的条纹光图像。本发明利用相机记录整个过程，通过分析条纹在凹坑表面的径向和深度变化，可以提取凹坑演变的详细规律，实验前对图像进行标定，能够实现对凹坑表面条纹图像的定量分析，提供准确的侵蚀过程数据。

本发明授权一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统在权利要求书中公布了：1.一种基于结构光图像的月壤侵蚀过程动态测量系统，其特征在于，包括：实验喷管1、模拟月壤容器2、模拟月壤3、结构光投影仪4、高速相机5与图像标定装置6； 所述实验喷管1上游通过输送管路与真空舱外的气瓶连接，模拟月壤容器2包括侧壁面斜劈201，模拟月壤3位于模拟月壤容器2的内部，结构光投影仪4用于将已编码的光条纹图案精确投射到凹坑表面上，高速相机5安装在侧壁面斜劈201的上方，用于拍摄被凹坑表面的条纹光图像，记录光图案在物体表面上的演变情况，图像标定装置6用于在实验前对斜上方拍摄的相机图像进行标定，图像标定装置6的侧面设置有固定间距网格601，固定间距网格601定义标定点的坐标系，网格点的位置和间距是已知的，作为参考用于图像校正； 所述侧壁面斜劈201的尖端与发动机的中心截面重合，减少羽流场在容器壁面上的干扰，基于侧壁面斜劈201的引导作用，月壤在羽流的作用下形成的半个凹坑接近于实际环境中的完整凹坑形态； 所述结构光投影仪4所投射的编码条纹图案采用垂直方向编码，即条纹图水平投射，条纹图案的颜色仅在垂直方向上发生变化，在编码过程中，每一条纹颜色与凹坑深度一一对应，保证不同深度的条纹颜色唯一且不重复，在实际测量过程中，解析凹坑表面不同颜色的条纹位置来精确确定凹坑的深度信息，实现对凹坑形态的详细分析。

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