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龙图腾网获悉广东工业大学申请的专利光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119687828B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411850118.3，技术领域涉及：G01B11/24；该发明授权光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法是由邹涛;谈季;陈焕坤;罗索凡;何昭水设计研发完成，并于2024-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法在说明书摘要公布了：一种光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法，包括：将横向和纵向的正弦相移条纹图投影到多个被测物的表面，并用相机采集条纹序列；分别得到物体轮廓掩膜和饱和掩膜；将轮廓掩膜的白色区域坐标转换到投影仪坐标中，得到投影掩膜；使用连通域标记算法得到单物投影掩膜图像；利用标记好的区域和饱和掩膜，设置两组掩膜区域生成自适应强度的纵向正弦相移条纹图，并依次将两组区域条纹投影至被测物表面，同时采集光谱分离的区域条纹图像；取该物体对应的不同通道颜色的条纹图进行独立相位解调与相位融合，根据融合后的相位结果进行三维重建；本发明在保证消除条纹混叠干扰的前提下，显著提高了测量效率。

本发明授权光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法在权利要求书中公布了：1.一种光谱分离的区域自适应条纹投影三维测量方法，其特征在于，包括： 投影横向与纵向正弦相移的条纹图像至被测物表面，分别获取横向与纵向的相位分布结果； 根据所述横向与纵向正弦相移的条纹图像，利用YOLO网络对被测物图像进行轮廓分割，得到轮廓掩膜Mc； 在所述横向与纵向正弦相移的条纹图像中检测光强饱和区域，通过设定阈值划分，得到饱和掩膜Ms； 根据所述轮廓掩膜Mc与所述饱和掩膜Ms，生成投影掩膜图像； 在投影掩膜区域生成纵向正弦相移条纹图； 依次采集区域条纹图，并进行相位解调与相位融合，利用相位-高度映射模型进行三维重建； 所述在投影掩膜区域生成纵向正弦相移条纹图，包括： 将所述投影掩膜图像中的物体标记为连续的序号，按照奇数和偶数序号将强光投影掩膜Mp的白色区域分为2组，其中第1组是由奇数序号组成的掩膜，命名为MpB，第2组是由偶数序号组成的掩膜，命名为MpR；分别在MpB和MpR中生成三步相移条纹序列和如下式所示： 其中，up,vp表示投影像素坐标；A和B均为常数；F表示条纹频率；i表示三步相移法中的第i张条纹图，i＝1,2,3； 将区域条纹图按照如下顺序交替投射： 在弱光掩膜Mq中生成低强度三步相移条纹序列其中参数A和B均较强光掩膜Mp降低一半； 将序列和中对应弱光掩膜区域的条纹替换为分别得到更新后的自适应强度条纹序列和 将自适应强度条纹序列和均载入投影仪并投射至被测物表面； 投射序列时使用蓝色光源，投射序列时使用红色光源； 所述依次采集区域条纹图，并进行相位解调与相位融合，包括： 设置相机曝光时间大于或等于相邻两张区域条纹图投射的时间，使所述相机能够在采集一张图的过程中，同时捕获到序列和两张区域条纹图像； 相机依次采集至少1次，分别保存至少1张光谱分离的相移条纹图像； 将采集到的光谱分离条纹图进行RGB通道分离，得到无多次反射光干扰下的高质量相位结果； 在利用高质量相位结果得到完整相位结果，以进行三维重建。

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