浜松光子学株式会社高桥考二获国家专利权
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龙图腾网获悉浜松光子学株式会社申请的专利光传送介质测定方法、光传送介质测定装置、光传送介质测定程序和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114868000B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080090097.3，技术领域涉及：G01M11/00；该发明授权光传送介质测定方法、光传送介质测定装置、光传送介质测定程序和存储介质是由高桥考二;新垣隆设计研发完成，并于2020-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本光传送介质测定方法、光传送介质测定装置、光传送介质测定程序和存储介质在说明书摘要公布了：在光传送介质测定方法中，对光传送介质进行中心波长彼此相等且特性不同的多次光输入，取得与多次光输入分别对应的来自光传送介质的多次光输出的强度谱的实测值。使非线性系数和波长分散值变化并且计算基于多次光输入各自的强度谱和相位谱、光传送介质的非线性系数和波长分散值、多次光输出各自的强度谱的理论关系计算出的强度谱的推定值与实测值的误差。然后，基于非线性系数和波长分散值与误差的关系的、起因于特性的差异的多次光输入间的差异，决定光传送介质的非线性系数和波长分散值。由此，实现了高精度地取得光传送介质的非线性系数和波长分散值的测定方法。
本发明授权光传送介质测定方法、光传送介质测定装置、光传送介质测定程序和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种光传送介质测定方法，其特征在于： 是测定光传送介质的非线性系数和波长分散值的方法， 包括： 实测值取得步骤，对所述光传送介质进行中心波长彼此相等且特性不同的多次光输入，取得与所述多次光输入分别对应的来自所述光传送介质的多次光输出的强度谱的实测值； 误差算出步骤，使所述非线性系数和所述波长分散值变化并且计算基于所述多次光输入各自的强度谱和相位谱、所述光传送介质的所述非线性系数和所述波长分散值、与所述多次光输出各自的强度谱的理论关系计算出的强度谱的推定值与所述实测值的误差；和 参数决定步骤，基于所述非线性系数和所述波长分散值与所述误差的关系的、起因于所述特性的差异的所述多次光输入间的差异，决定所述光传送介质的所述非线性系数和所述波长分散值， 在所述参数决定步骤中，使所述误差接近最小值的所述非线性系数与所述波长分散值的组合具有线性关系，基于与所述多次光输入分别对应的多个所述线性关系，决定所述光传送介质的所述非线性系数和所述波长分散值。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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