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龙图腾网获悉上海无线电设备研究所;中国人民解放军96901部队申请的专利一种红外发射率外场测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115790863B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211492944.6，技术领域涉及：G01J5/53；该发明授权一种红外发射率外场测量方法是由张玉涛;朱凌轩;吴称光;童广德;韩冰;张元设计研发完成，并于2022-11-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种红外发射率外场测量方法在说明书摘要公布了：一种红外发射率外场测量方法，采用四个不同发射率的靶布作为定标体，利用高精度面源黑体和金板对靶布发射率进行标定，然后利用四个靶布对大气及环境辐射进行校正，同时校正上行大气辐射、下行大气辐射、环境辐射、大气衰减的影响，进而完成目标及典型地物表面发射率反演。本发明不仅可以获取准确的目标及典型地物发射率，满足工程应用需要，同时显著降低测试成本，不需要复杂昂贵的测试专用设备，也不需要研制专门的外场测试系统，仅需要面源黑体、金板等定标体以及外场挂飞测试设备，即可实现外场红外发射率测量。

本发明授权一种红外发射率外场测量方法在权利要求书中公布了：1.一种红外发射率外场测量方法，其特征在于，包含以下步骤： 步骤S1、低空挂飞获取高精度面元黑体、金板及大面积标准体的辐射亮度，并同步采集大面积标准体表面温度； 大面积标准体选取四个不同发射率的靶布，四个靶布规律排布，发射率依次为0.9、0.6、0.3、0.1，每块靶布大小为5m×5m，高精度面元黑体及金板布置于大面积标准体旁边，保证低空挂飞时靶布和高精度面元黑体、金板位于探测器视场，用于校正大气下行辐射、大气上行辐射、环境辐射、大气衰减四个因素； 步骤S2、计算大面积标准体表面发射率； 步骤S3、高空挂飞获取目标及地物背景入瞳辐射亮度，并同步采集目标、大面积标准体及典型地物表面温度； 步骤S4、计算大气辐射、环境辐射和大气衰减； 目标及背景辐射的影响因素有四个，分别为大气上行辐射、大气下行辐射、大气衰减、环境辐射，四个大面积靶布的发射率已由低空挂飞获取，利用高空挂飞时靶布表面温度可知四个靶布的本体辐射亮度，联立求解即可获得大气上行辐射、大气下行辐射、大气衰减、环境辐射； 步骤S5、反演目标及典型地物表面发射率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海无线电设备研究所;中国人民解放军96901部队，其通讯地址为：201109 上海市闵行区中春路1555号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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