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龙图腾网获悉西安工业大学申请的专利光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119845959B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510046362.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置是由王红军;王文琦;田爱玲;刘丙才;朱学亮;岳鑫;刘卫国设计研发完成，并于2025-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置，涉及光学检测技术领域，该方法包括：基于暗场显微成像原理，控制CMOS显微镜摄像头以放大倍数为1的粗扫描方式对待测光学元件进行基于预设粗扫路径的整体扫描；获取CMOS显微镜摄像头在预设粗扫路径的每个第一子孔径位置处采集的子孔径图像并提取子孔径图像中的疵病特征信息；基于疵病特征信息确定目标疵病点并对目标疵病点进行聚类，得到疵病点聚类结果；以扫描路径最短为目标对所有疵病点类的类中心进行路径规划，得到精扫路径；控制CMOS显微镜摄像头以放大倍数大于1的精扫描方式对待测光学元件进行基于精扫路径的扫描。本发明能够减少扫描时间和数据存储量，降低后期的图像拼接误差。

本发明授权光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法，其特征在于，包括： 基于暗场显微成像原理，控制CMOS显微镜摄像头以粗扫描方式对待测光学元件进行基于预设粗扫路径的整体扫描；其中，所述CMOS显微镜摄像头在所述粗扫描方式下的放大倍数为1； 获取所述CMOS显微镜摄像头在所述预设粗扫路径的每个第一子孔径位置处采集的子孔径图像，并提取所述子孔径图像中的疵病特征信息； 基于所述疵病特征信息确定目标疵病点，并对所述目标疵病点进行聚类，得到疵病点聚类结果，所述目标疵病点用于表征所述子孔径图像中的疵病； 确定所述疵病点聚类结果中的每个疵病点类的类中心，并将所述类中心确定为第二子孔径位置； 以扫描路径最短为目标，对所有所述第二子孔径位置进行路径规划，得到精扫路径； 控制所述CMOS显微镜摄像头以精扫描方式对所述待测光学元件进行基于所述精扫路径的扫描，所述第二子孔径位置为所述CMOS显微镜摄像头在所述精扫描方式下采集子孔径图像的位置，所述CMOS显微镜摄像头在所述精扫描方式下的放大倍数大于1； 所述基于所述疵病特征信息确定目标疵病点，并对所述目标疵病点进行聚类，得到疵病点聚类结果，包括： 基于所述疵病特征信息确定疵病类型； 在所述疵病类型包括麻点型和划痕型的情况下，将所述划痕型的疵病归一化为第一疵病点； 将所述第一疵病点和所述麻点型的第二疵病点确定为目标疵病点，并对所述目标疵病点进行聚类，得到疵病点聚类结果； 所述将所述划痕型的疵病归一化为第一疵病点，包括： 确定所述划痕型的疵病的起始点和终止点； 从所述起始点到所述终止点，每间隔目标距离，对所述划痕型的疵病进行一次划分；其中，所述目标距离是基于划分参数和所述精扫描方式对应的第二视场范围确定的，所述划分参数大于0且小于1； 将所述起始点、所述终止点和划分的所有划分点确定为所述划痕型的疵病归一化后的第一疵病点。

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