得一微电子股份有限公司高雨婷获国家专利权
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龙图腾网获悉得一微电子股份有限公司申请的专利读干扰检测方法、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889413B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411988722.2，技术领域涉及：G11C29/44；该发明授权读干扰检测方法、设备及存储介质是由高雨婷;叶敏;李明豪设计研发完成，并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本读干扰检测方法、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种读干扰检测方法、设备及存储介质，属于数据存储技术领域。该方法包括：获取第一存储单元缺失擦除态阈值电压的初始缺失数量，在执行第二存储单元的读取动作后，通过阈值分布工具扫描第一存储单元，获取受第二存储单元读干扰后的第一存储单元的阈值分布图，确定阈值分布图中，第一存储单元缺失擦除态阈值电压的缺失数量，根据缺失数量和初始缺失数量的数量差，确定读干扰检测结果。本申请根据读干扰影响存储单元阈值电压提高，减少的最低电压级别的阈值电压无法检测的存储单元数量，对存储单元读取动作的读干扰影响范围和程度进行评估，而无需重复大量的读取测试，降低了闪存芯片的读干扰测试所占用的资源成本。
本发明授权读干扰检测方法、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种读干扰检测方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤： 获取第一存储单元缺失擦除态阈值电压的初始缺失数量； 在执行第二存储单元的读取动作后，通过阈值分布工具扫描所述第一存储单元，获取受所述第二存储单元读干扰后所述第一存储单元的阈值分布图； 确定所述阈值分布图中，所述第一存储单元缺失擦除态阈值电压的缺失数量； 根据所述缺失数量和所述初始缺失数量的数量差，确定读干扰检测结果。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人得一微电子股份有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南七道17号深圳市数字技术园A1栋七层A区；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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