得一微电子股份有限公司范展霖获国家专利权
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龙图腾网获悉得一微电子股份有限公司申请的专利纠错编码方法、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119943126B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411923135.5,技术领域涉及:G11C29/42;该发明授权纠错编码方法、设备及存储介质是由范展霖;叶敏;吴大畏设计研发完成,并于2024-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本纠错编码方法、设备及存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种纠错编码方法、设备及存储介质,涉及存储器技术领域,所述的方法包括:监控存储设备的运行状态,得到存储设备的运行状态信息;当监控到运行状态信息达到预设条件时,获取存储设备中达到预设条件的存储区域的目标物理地址;当接收到数据存储请求时,根据目标物理地址确定目标纠错编码方案;根据目标纠错编码方案进行纠错编码。本申请能够可以有效提升存储设备中保持能力薄弱区域数据的纠错成功率,提升存储设备整体的寿命和可靠性。
本发明授权纠错编码方法、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种纠错编码方法,其特征在于,所述的方法包括: 对存储设备进行擦写测试,并根据测试结果生成错误分布矩阵; 根据所述错误分布矩阵,计算各个发生错误的错误存储区域对应的权重; 监控所述存储设备的运行状态,得到所述存储设备的运行状态信息; 当监控到所述运行状态信息达到预设条件时,获取所述存储设备中达到所述预设条件的存储区域的目标物理地址; 当接收到数据存储请求时,根据所述目标物理地址确定目标纠错编码方案,包括:根据所述权重,确定对应所述错误存储区域的所述目标纠错编码方案; 根据所述目标纠错编码方案进行纠错编码。
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