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龙图腾网获悉西南技术物理研究所申请的专利百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119962159B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411802872.X，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法是由陈永琦;张恩涛;沈琪皓;王宏元;周桥;宗庆霜;崔少丽;郭柳君;荣克鹏;宁凯;郑云瀚;石宇航;李敬;金凡皓;杨峰设计研发完成，并于2024-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法，属于光通信用泵浦激光器技术领域。本发明总体的思路是，因芯片是制约泵浦激光器寿命的薄弱环节，芯片寿命模型中的活化能和电流加速因子约等于模块的寿命模型中的活化能和电流加速因子，从而利用多组不同条件下芯片的加速老化寿命试验替代多组模块的加速老化试验，求得寿命模型中的活化能和电流加速因子，大大降低试验难度和成本。此外，寿命模型中采用多种条件同时加速的方法，如温度加速和电流加速同时进行，并增加样本数量，试验时间可以从8000h～5000h，减少为4000h～2000h。该试验方法可以大大节约成本和时间，为产品预研、初样等阶段，更便捷、快速地评估产品的寿命提供一种思路。

本发明授权百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法在权利要求书中公布了：1.一种百毫瓦量级海底光通信用泵浦激光器寿命评估的试验方法，其特征在于，该方法中，利用泵浦激光器模块的芯片进行多组不同条件的加速老化试验，得到预估芯片寿命的失效机制相关活化能、电流加速系数；其中，加速老化试验选取多种不同电流、不同温度的加速条件进行；泵浦激光器失效属于温度依赖型失效，使用阿列纽斯关系来计算失效率： 其中，λ0分别为额定条件的失效率，Ea是温度加速失效机制的活化能，KB是玻尔兹曼常数，m是加速因子；T是芯片的结温，I是电流，脚标ag和op分别表示加速老化寿命测试水平和额定工作水平； 在加速寿命模型中，λ0，Ea、m为参数，Iop，KB，Top为确定的常量，Iag、Tag为自变量，λ为因变量；利用多组不同条件的加速老化试验得到5组自变量Iag、Tag以及因变量λ，代入方程1得到方程组，通过极大似然估计拟合求得一定置信度下的λ0、Ea、m；泵浦激光器模块的寿命模型中的活化能Ea和m近似为芯片的寿命模型中的活化能Ea和m，即泵浦激光器模块的寿命模型为： 在芯片多条件加速老化试验的同时，同步开展一组泵浦激光器模块的加速老化寿命试验；公式3中，λ为加速寿命条件的失效率，χ是置信度，N为器件总数，ti为第i个器件的加速寿命测试时长；将泵浦激光器模块的加速老化寿命试验设置的电流、温度，以及加速老化试验条件下获得的失效率代入公式2，求得泵浦激光器模块的失效率，根据泵浦激光器模块的失效率判断泵浦激光器模块的寿命是否满足指标。

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