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龙图腾网获悉深圳大学申请的专利双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120232862B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510392751.0，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法是由刘丽炜;杨懿萱;郭嘉庆;张超设计研发完成，并于2025-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及生物成像领域，具体公开了双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法，包括：S1、利用双光子频域荧光寿命成像TP‑FD‑FLIM技术，并通过荧光寿命参数无损表征微环境变化，实时监测氧化应激反应及中性粒细胞迁移行为，结合体外细胞模型关联化合物效应分析；S2、基于FD‑FLIM的物理基础建立于周期性激发下的频域荧光寿命信号处理与分析系统，分析荧光信号相对激发光的相位延迟φ与调制深度M动态关联特性，对分子寿命参数的定量反推。本发明提出的双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法，能够在亚细胞尺度上无损、实时地观察神经炎症反应。

本发明授权双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法在权利要求书中公布了：1.双光子频域荧光寿命成像的体外细胞微环境动态监测方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、利用双光子频域荧光寿命成像TP-FD-FLIM技术，并通过荧光寿命参数无损表征微环境变化，实时监测氧化应激反应及中性粒细胞迁移行为，结合体外细胞模型关联化合物效应分析； S2、基于FD-FLIM的物理基础建立于周期性激发下的频域荧光寿命信号处理与分析系统，分析荧光信号相对激发光的相位延迟与调制深度M动态关联特性，对分子寿命参数的定量反推； S2中，分析荧光信号相对激发光的相位延迟与调制深度M动态关联特性，对分子寿命参数的定量反推的步骤包括： S221、利用周期性激发光的频域特性解析荧光信号，激发函数建模，计算获得荧光信号并分析荧光信号特性； S222、解析频域信号与假设模型：将周期性荧光信号Ft分解为傅里叶级数，提取频域响应，其表达式为： ； 式中，傅里叶级数qk由积分定义为，k为谐波次数k=0,±1,±2,...，为复指数函数，为基波角频率； S223、相位延迟与调制深度测量：对光电倍增管PMT捕获的荧光信号偏置三通进行信号分离处理，将原始时域信号Ft分解为直流DC和射频RF分量，RF部分含寿命信息；采用射频混频技术提取基波特征，通过四通道功率分配架构并行传输处理荧光信号与参考信号； 对光电倍增管PMT捕获的荧光信号偏置三通进行信号分离处理的具体处理过程为： 直流分量表征荧光信号的时间积分强度，对应频域傅里叶级数的基频系数q0，数学表达为： ； 式中，B为偏置三通的直流转换效率，OB为系统固有直流偏移，q0为荧光信号的零阶傅里叶系数，表征稳态荧光强度，VDC为偏置器直流端口分量，T为荧光信号的采集时间周期，P为与激发激光平均功率相关的系数，为荧光团浓度； 射频RF分量对应频域傅里叶级数的基频系数，数学表达表示为： ； ； 式中，VRF为偏置器射频端口分量，为谐波次数，k=0,±1,±2,...，为复指数函数，为基波角频率； S224、系统校准与参数提取：建立移相器偏置电压与相位偏移量的映射关系，标定混频器损耗系数与增益系数，计算关键参数比值MB，生成四组正交参考信号，校正通道增益差异； S225、相量分析与寿命定量反推：分析四组正交相移信号，用矩阵运算消除直流偏移量OM，并通过与荧光的一次谐波傅里叶系数的虚部和实部存在正比关系提取荧光寿命；通过相量图水平分量g和垂直分量s计算多指数衰减的平均寿命。

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