成都凌亚科技有限公司魏昌军获国家专利权
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龙图腾网获悉成都凌亚科技有限公司申请的专利一种电路板光谱信号分选方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120740453B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511149330.1,技术领域涉及:G01B11/02;该发明授权一种电路板光谱信号分选方法及系统是由魏昌军;林永浩;刘俊君设计研发完成,并于2025-08-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电路板光谱信号分选方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及电路板抗震性能设计技术领域,具体而言,涉及一种电路板光谱信号分选方法及系统,本发明所述的电路板光谱信号分选方法通过光谱信号智能分选实现了电路板抗震性能的优化,具体方式为:利用激光扫描光谱图样的高度表征能力分析每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数,并基于关键元器件的装配参数和偏移参数综合评估关键元器件在不同装配参数下的抗震指数,进而得到最优装配参数,本方法基于同一器件多组实验的抗震指数,自动分选出最优装配参数组合,指导设计迭代。
本发明授权一种电路板光谱信号分选方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种电路板光谱信号分选方法,其特征在于,所述方法包括: 在电路板震动实验结束后,通过激光扫描仪依次扫描多个不同实验电路板的正面,进而得到每个实验电路板正面对应的光谱图样,所述光谱图样用于表征实验电路板正面电子器件的高度; 通过手动输入的电路板编码自动截取每个光谱图样中多个关键元器件区域的光谱子图,关键元器件包括电解电容、大功率电感和变压器; 基于每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数,并统计同一个关键元器件在不同实验电路板上的装配参数以及对应的偏移参数,并通过加权算法评估关键元器件在不同实验电路板上的抗震指数; 基于同一个关键元器件的多个抗震指数,在多个装配参数中分选出一个最优装配参数; 其中,基于每个关键元器件区域的光谱子图计算关键元器件的偏移参数,包括: 若关键元器件为电解电容,则基于预设的前后端部为弧线中间为类方形连接段的形状类图像特征提取算法在光谱子图中框选对应的光谱特征区域; 构建光谱特征区域的中轴线,并通过RGB值标识出中轴线上的最高点,构建穿过最高点且垂直于中轴线的垂线段,记为分界线; 以中轴线为X轴,以分界线为Y轴将光谱特征区域分割为四个象限区域,以分界线为基准线,向分界线的两侧平移设置多个间距相同且垂直于中轴线的平整度采集线; 依次计算第一象限区域内的多个平整度采集线的平均RGB波动量和第二象限区域内的多个平整度采集线的平均RGB波动量; 并将平均RGB波动量较小的一个象限区域和对应的关联象限区域标识为倾斜面参考区域; 测量倾斜面参考区域在Y轴方向上的最大长度值和在X轴上的距离值,并基于Y轴方向上的最大长度值与电解电容标准直径之间的差值修正X轴上的距离值,并基于修正后的X轴上的距离值计算震动测试后的电解电容的倾斜角度; 基于电解电容两个引脚的焊点位置构建第一参照线,并计算第一参照线与中轴线的垂直夹角; 其中,电解电容的抗震指数计算方式为:获取电解电容装配参数中的引脚长度,并基于引脚长度配置垂直夹角与倾斜角度的权重,然后基于垂直夹角和倾斜角度通过加权算法计算得到电解电容在当前引脚长度下的抗震指数。
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