惠州联合铜箔电子材料有限公司万新领获国家专利权
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龙图腾网获悉惠州联合铜箔电子材料有限公司申请的专利基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120870061B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511358120.3,技术领域涉及:G01N21/57;该发明授权基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统是由万新领;黄玉泉;成天耀;严政港;宋悦;曾蓉设计研发完成,并于2025-09-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统在说明书摘要公布了:本发明属于铜箔抗氧化性检测分析技术领域,公开了基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统,如下:获取不同抗氧化性等级的铜箔样本的光泽度衰减标准曲线;根据拐点位置,将光泽度衰减标准曲线划分得到不同氧化阶段以及光泽度变化范围;获取待测铜箔的待测光泽度衰减曲线;获取所有光泽度衰减标准曲线中与待测光泽度衰减曲线相似度最高的光泽度衰减标准曲线,根据其与待测光泽度衰减曲线在同一氧化阶段的光泽度变化范围,计算待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度;对第一缺陷影响程度进行修正,得到第二缺陷影响程度,以此计算待测光泽度衰减曲线与所有光泽度衰减标准曲线的最终相似度;根据最终相似度划分待测铜箔的抗氧化性等级。
本发明授权基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种基于光泽度分析的铜箔抗氧化性检测方法,其特征在于:所述方法包括步骤如下: 获取不同抗氧化性等级的铜箔样本的光泽度衰减标准曲线; 根据光泽度衰减标准曲线中的拐点位置,将光泽度衰减标准曲线划分为不同氧化阶段,并求取不同氧化阶段对应的光泽度变化范围; 获取待测铜箔的待测光泽度衰减曲线; 获取所有光泽度衰减标准曲线中与待测光泽度衰减曲线相似度最高的光泽度衰减标准曲线,并记为相似标准曲线; 根据相似标准曲线与待测光泽度衰减曲线在同一氧化阶段的光泽度变化范围,计算待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度; 对第一缺陷影响程度进行修正,得到第二缺陷影响程度; 通过第二缺陷影响程度计算待测光泽度衰减曲线与所有光泽度衰减标准曲线的最终相似度; 根据最终相似度划分待测铜箔的抗氧化性等级; 根据相似标准曲线与待测光泽度衰减曲线在同一氧化阶段的光泽度变化范围,计算待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度,包括: 根据不同氧化阶段对应的光泽度变化范围,分别计算得到相似标准曲线与待测光泽度衰减曲线在同一氧化阶段的光泽度变化范围差异度; 分别在每个氧化阶段对应的光泽度衰减标准曲线、待测光泽度衰减曲线上依次选取若干点,获取所述若干点的光泽度变化速率; 根据每个氧化阶段的若干点的光泽度变化速率,以及每个氧化阶段的光泽度变化范围差异度,计算待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度; 对第一缺陷影响程度进行修正,得到第二缺陷影响程度,包括: 获取多组待测铜箔在不同氧化阶段的第一缺陷影响程度; 计算得到多组待测铜箔在每个氧化阶段的第一缺陷影响程度与对应氧化阶段中最小的第一缺陷影响程度的平均差值,将归一化处理后的第一缺陷影响程度的平均差值作为修正系数; 根据修正系数对第一缺陷影响程度进行修正,得到第二缺陷影响程度。
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