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龙图腾网获悉上海孤波科技有限公司申请的专利一种半导体数据分析方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120873497B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511374660.0，技术领域涉及：G06F18/20；该发明授权一种半导体数据分析方法、装置、设备及存储介质是由咸国曾;张海峰;周浩设计研发完成，并于2025-09-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体数据分析方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体数据分析方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：获取用户对半导体数据的任务分析意图；通过大模型对所述任务分析意图进行分析，得到与所述任务分析意图相匹配的任务决策树；所述任务决策树中每个节点为一个独立的分析子任务；调用分析模块中与所述分析子任务对应的分析工具执行所述任务决策树，得到执行结果；基于所有分析子任务的执行结果，确定所述任务分析意图对应的分析结果。该方法通过大模型获取用户的任务分析意图，从而对半导体数据进行分析得到分析结果，能够提高半导体数据分析的效率。

本发明授权一种半导体数据分析方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体数据分析方法，其特征在于，所述方法包括： 获取用户对半导体数据的任务分析意图；所述任务分析意图的类型包括半导体的低良率分析、工程报告、良率提升、生产数据分析； 通过大模型对所述任务分析意图进行分析，得到与所述任务分析意图相匹配的任务决策树；所述任务决策树中每个节点为一个独立的分析子任务； 调用分析模块中与所述分析子任务对应的分析工具执行所述任务决策树，得到执行结果； 基于所有分析子任务的执行结果，确定所述任务分析意图对应的分析结果； 当所述任务决策树对应的任务为低良率分析任务时，所述分析子任务至少包括提取目标半导体数据子任务、生成良率趋势图子任务、异常点识别子任务；所述目标半导体数据子任务对应的分析工具为创建数据集工具，所述生成良率趋势图子任务对应的分析工具为可视化工具，所述异常点识别子任务对应的分析工具为图表分析模块； 当所述任务决策树对应的任务为工程报告任务时，所述分析子任务至少包括提取目标半导体数据子任务，生成良率趋势图子任务，Bin柏拉图生成子任务，测试项的累积分布函数CDF图与直方图、晶圆图生成子任务，异常分布测试项识别子任务，良率统计过程控制SPC判断异常子任务，测试项SPC判断异常子任务，方差分析判断异常子任务，晶圆图缺陷模式识别子任务。

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