宁波吉品科技有限公司林斌获国家专利权
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龙图腾网获悉宁波吉品科技有限公司申请的专利一种用于波导芯片测试夹具的测试结构及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120908537B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511458392.0，技术领域涉及：G01R27/28；该发明授权一种用于波导芯片测试夹具的测试结构及测试方法是由林斌;俞文吉;詹昌吉;冯冲;刁玉龙设计研发完成，并于2025-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于波导芯片测试夹具的测试结构及测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于波导芯片测试夹具的测试结构及测试方法，属于芯片测试技术领域，测试结构包括：第一连接单元，与测试夹具外侧的第一波导口连接；第二连接单元，通过转接组件与测试靠模连接，所述测试靠模设置在芯片接触面上，所述芯片接触面安装在所述测试夹具上，用以使所述第二连接单元检测所述测试夹具的散射参数；通过设计转接组件与测试靠模和芯片接触面连接对测试夹具进行测试，与第一连接单元和第二连接单元形成双端口测试通道，可以精确评估测试夹具的性能。
本发明授权一种用于波导芯片测试夹具的测试结构及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种用于波导芯片测试夹具的测试结构，其特征在于，包括： 第一连接单元1，与测试夹具2外侧的第一波导口3连接； 第二连接单元4，通过转接组件5与测试靠模6连接，所述测试靠模6设置在芯片接触面7上，所述芯片接触面7安装在所述测试夹具2上，用以使所述第二连接单元4检测所述测试夹具2的散射参数； 所述转接组件5包括第一测试转接件51和设置在所述第一测试转接件51中部的第二测试转接件52； 所述第一测试转接件51上设置有第一转接口511，所述第二测试转接件52上开设有第二转接口521，所述第二转接口521延伸至所述第一测试转接件51的外侧； 所述第一测试转接件51背向所述第二转接口521的一侧设置有销轴512和销孔513，所述第二连接单元4通过所述销轴512和所述销孔513与所述转接组件5连接。
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