西安唐晶量子科技有限公司刘邦获国家专利权
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龙图腾网获悉西安唐晶量子科技有限公司申请的专利一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120997109B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-12-26发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511529533.3，技术领域涉及：G06T5/94；该发明授权一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法是由刘邦;龚平;夏天文;王元;杨宇博;韩洋佳设计研发完成，并于2025-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法在说明书摘要公布了：本发明属于图像增强技术领域，具体涉及一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法，其方法包括：分析像素点的局部与全局灰度信息、结构张量特征，计算出每个像素点的缺陷显著值，用以量化其作为缺陷的可能性，以减弱外延片图像中条纹结构的干扰；并基于缺陷显著值构建加权直方图，使缺陷像素在直方图中占有更高权重；通过寻找加权直方图的能量中值点来确定最优分割阈值，最终利用分割阈值对图像执行BBHE增强。本发明能显著提升微小缺陷的对比度，为后续的外延片检测提供高质量图像，提高检测准确率。
本发明授权一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法在权利要求书中公布了：1.一种用于VCSEL外延片检测的图像增强方法，其特征在于，包括： 以待增强图像中任一像素点为目标像素点，根据目标像素点的局部标准差、全局标准差，以及目标像素点的灰度值与局部均值之间的差异获取目标像素点的第一区分度；所述局部标准差为目标像素点的邻域像素点灰度值的标准差；所述全局标准差为待增强图像中所有像素点灰度值的标准差；所述局部均值为目标像素点的邻域像素点灰度值的均值； 根据目标像素点的第一区分度与目标像素点所在行中像素点第一区分度的均值之间的差异和目标像素点的第一区分度获取目标像素点的第二区分度；根据由目标像素点结构张量得到的两个特征值之间的差异，以及第二区分度获取目标像素点的缺陷显著值；对待增强图像中每个灰度级对应所有像素点的加权值进行累加，根据累加结果得到加权直方图；所述加权值与缺陷显著值正相关；获取加权直方图中每个灰度级与第一个灰度级之间所有灰度级对应柱高的累计和，根据灰度级对应柱高的累计和获取分割阈值； 基于分割阈值对待增强图像使用BBHE算法进行图像增强。
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