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本源量子计算科技(合肥)股份有限公司宋垚获国家专利权

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龙图腾网获悉本源量子计算科技(合肥)股份有限公司申请的专利量子比特参数发生漂移的判断方法、装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN117010514B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210452149.8,技术领域涉及:G06N10/60;该发明授权量子比特参数发生漂移的判断方法、装置是由宋垚;石汉卿;孔伟成设计研发完成,并于2022-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。

量子比特参数发生漂移的判断方法、装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种量子比特参数发生漂移的判断方法、装置,利用所述第一有向无环图以及所述物理模型判断第一参数是否发生漂移,其中,所述第一参数为所述待测参数在所述第一有向无环图中的依赖节点位置对应的量子比特参数。基于本申请提出的判断量子比特参数是否发生偏移的方案无需人工介入,可以实现快速判断量子比特参数的漂移情况,在一定程度提高了量子计算任务的执行效率。

本发明授权量子比特参数发生漂移的判断方法、装置在权利要求书中公布了:1.一种量子比特参数发生漂移的判断方法,其特征在于,包括: 获取第一有向无环图,所述第一有向无环图用于表征待测量子比特的多个量子比特参数以及所述多个量子比特参数间的依赖关系; 获取所述待测量子比特的待测参数的物理模型,所述物理模型用于获取所述待测参数的理论预期值; 利用所述第一有向无环图以及所述物理模型判断第一参数是否发生漂移,所述第一参数为所述待测参数在所述第一有向无环图中的依赖节点位置对应的量子比特参数; 所述利用所述第一有向无环图以及所述物理模型判断第一参数是否发生漂移,包括: 对所述待测量子比特进行第一测试实验,获取所述待测参数的实验结果,所述第一测试实验为所述待测量子比特用于获取所述待测参数的实验; 基于所述第一有向无环图获取所述第一参数; 基于所述物理模型以及所述实验结果判断所述第一参数是否发生漂移; 所述基于所述物理模型以及所述实验结果判断所述第一参数是否发生漂移,包括: 基于所述物理模型获取所述实验结果的偏移程度; 基于所述偏移程度判断所述第一参数是否发生漂移; 通过所述物理模型获取所述实验结果的偏移程度,包括: 利用所述物理模型获取所述待测参数的理论预期值; 基于所述理论预期值获取所述实验结果的偏移程度; 所述基于所述理论预期值获取所述实验结果的偏移程度,包括: 对所述理论预期值以及所述实验结果利用拟合优度获取所述偏移程度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人本源量子计算科技(合肥)股份有限公司,其通讯地址为:230088 安徽省合肥市合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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