中国计量科学研究院徐骁龙获国家专利权
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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利片上集成的SQUID低温温度计及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119394463B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411683071.6,技术领域涉及:G01K7/32;该发明授权片上集成的SQUID低温温度计及其制备方法是由徐骁龙;郭宇啸;钟青;李劲劲;王仕建;王雪深;陈建设计研发完成,并于2024-11-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本片上集成的SQUID低温温度计及其制备方法在说明书摘要公布了:本公开涉及一种二阶梯度独立输入反馈型超导量子干涉器件及其制备方法,包括:八个超导垫片,八个超导垫片包括四个输入超导垫片和四个负反馈超导垫片,一个输入超导垫片与一个负反馈超导垫片形成一个超导环路,四个超导环路并联且呈中心对称排布;输入线圈,输入线圈与四个超导输入超导垫片相耦合;负反馈线圈,负反馈线圈与四个负反馈超导垫片相耦合。本公开能够有效降低输入线圈与反馈线圈之间的串扰现象,并提升输入线圈和反馈线圈的耦合系数和传递效率。
本发明授权片上集成的SQUID低温温度计及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种片上集成的SQUID低温温度计,其特征在于,所述SQUID低温温度计形成于超导器件内,所述超导器件包括SQUID层、超导梯度线圈层和金属温度层, 其中,所述片上集成SQUID低温温度计包括: 至少两个SQUID线圈,所述至少两个SQUID线圈位于所述SQUID层; 至少两个超导梯度线圈,所述至少两个超导梯度线圈位于所述超导梯度线圈层,且所述至少两个超导梯度线圈中的至少部分子线圈位于所述金属温度层下方,所述至少两个超导梯度线圈中的至少部分子线圈位于镂空区域;其中,位于所述金属温度层下方的超导梯度线圈的缠绕方向相同,且互相耦合;位于镂空区域的多个子线圈与位于SQUID线圈的待测金属上多个子线圈的缠绕方向相反,且两两解耦;所述至少两个超导梯度线圈中位于所述金属温度层下方的至少部分子线圈,用于读取所述金属温度层的金属噪声;所述至少两个超导梯度线圈中位于镂空区域的至少部分子线圈,用于读取空间噪声;所述镂空区域位于所述待测金属的旁侧; 电导率测量单元,所述电导率测量单元集成于所述金属温度层内,用于测量所述金属温度层的电导率。
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