之江实验室陈晓鹏获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉之江实验室申请的专利一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法、电子设备、介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119413767B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411476148.2,技术领域涉及:G01N21/64;该发明授权一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法、电子设备、介质是由陈晓鹏;祁绩;亓淼设计研发完成,并于2024-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法、电子设备、介质在说明书摘要公布了:本发明提供了一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法、电子设备、介质,包括:获取荧光采集系统的第一激发功率P11及第一激发波长Aλ;获取荧光分子样品的荧光分子浓度、荧光光谱曲线、激发效率曲线Eλ以及荧光发射强度;获取待测设备的第二激发功率P22及第二激发波长Bλ;设定荧光浓度值c,由荧光中心波长与荧光浓度的关系Wc得到待测设备对应的荧光发射光谱曲线;基于待测设备的第二激发波长Bλ、激发效率曲线Eλ、荧光采集系统的第一激发波长Aλ、待测设备的第二激发功率P22以及荧光采集系统的第一激发功率P11计算荧光发射比ηc;将荧光发射比ηc与空间上任意一点处的荧光发射强度Ic相乘计算得到待测设备在该位置上的荧光发射强度。
本发明授权一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法、电子设备、介质在权利要求书中公布了:1.一种利用照明光反馈的数字仿体强度计算方法,其特征在于,所述方法具体包括以下步骤: 获取荧光采集系统的第一激发功率及第一激发波长; 获取荧光分子样品的荧光分子浓度、荧光光谱曲线、激发效率曲线以及荧光发射强度; 获取待测设备的第二激发功率及第二激发波长; 设定荧光浓度值c,由荧光中心波长与荧光浓度的关系得到待测设备对应的荧光发射光谱曲线; 基于待测设备的第二激发波长、激发效率曲线、荧光采集系统的第一激发波长、待测设备的第二激发功率以及荧光采集系统的第一激发功率计算荧光发射比;包括: 计算荧光采集系统的第一激发波长与激发效率曲线的积分,得到荧光采集系统对应的相对荧光激发量; 计算待测设备的第二激发波长与激发效率曲线的积分,得到待测设备对应的相对荧光激发量; 将荧光采集系统对应的相对荧光激发量与待测设备对应的相对荧光激发量的比值作为相对荧光发射比; 计算待测设备的第二激发功率以及荧光采集系统的第一激发功率的比值,将该比值与相对荧光发射比相乘,得到荧光发射比; 将荧光发射比与空间上任意一点处的荧光发射强度相乘计算得到待测设备在该点上的荧光发射强度。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人之江实验室,其通讯地址为:311121 浙江省杭州市余杭区中泰街道科创大道之江实验室;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议,有机会获取IP积分或其他奖励