中国科学院西安光学精密机械研究所杜云飞获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院西安光学精密机械研究所申请的专利一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统及控制方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119620802B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411635035.2,技术领域涉及:G05D23/30;该发明授权一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统及控制方法是由杜云飞;李宝鹏;黄超;淡丽军;孙忠涵;张健;杨文刚;高伟设计研发完成,并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统及控制方法在说明书摘要公布了:本发明是一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统及控制方法,包括上位机、CPU控制处理模块、TEC驱动及温度采集模块以及CCD探测器制冷组件;CPU控制处理模块分别与上位机和TEC驱动及温度采集模块连接,CCD探测器制冷组件与TEC驱动及温度采集模块连接;本发明可以根据遥测温度CCD温变模型,自动调整上级TEC控制参数,在一定范围内满足控温速率和控温精度的要求;并可以根据遥测温度CCD温变模型、控温精度和目标温度的要求,自动调整下级TEC控制参数,保证控温精度和扩展控温深度。
本发明授权一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统及控制方法在权利要求书中公布了:1.一种应用多独级TEC堆叠的CCD温控系统的控制方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S1,上位机1加电后,CPU控制处理模块2、TEC驱动及温度采集模块3上电,CPU控制处理模块2与上位机1建立通信; 步骤S2,CPU控制处理模块2加电,并加载上级TEC43、下级TEC44的默认控制参数; 步骤S3,通过上位机1进行控温精度设置、控温速率设置以及目标温度值设置,设置完成后上位机1发出制冷指令; 步骤S4,CPU控制处理模块2根据面阵CCD41的当前温度反馈值和目标温度值对上级TEC43进行默认参数的PID计算输出控制量,对下级TEC44恒定输出12满量程控制量; 步骤S5,CPU控制处理模块2根据上级TEC43和下级TEC44的控制量输出,将面阵CCD41的当前温度与目标温度值进行对比,若面阵CCD41温度在目标温度±2℃之内,则返回步骤S4;若面阵CCD41温度在目标温度+2℃之外,进行步骤S6;若面阵CCD41温度在目标温度-2℃之外,进行步骤S7; 步骤S6,下级TEC44输出控制量阶梯式递增至当前值的32倍,结合当前温升速率,控制下级TEC44阶梯增长步长,满足温变速率不大于步骤S3中的设置值,直至面阵CCD41当前温度稳定在目标温度+2℃范围内; 步骤S7,下级TEC44输出控制量阶梯式递减至当前值的12倍,同时结合当前温控速率,控制下级TEC44阶梯控制步长,满足温变速率不大于步骤S3中的设置值,直到面阵CCD41当前温度稳定在目标温度-2℃范围内。
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