深圳大普微电子股份有限公司曹学明获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳大普微电子股份有限公司申请的专利存储设备可靠性预测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119718826B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411794585.9，技术领域涉及：G06F11/30；该发明授权存储设备可靠性预测方法、装置、设备及存储介质是由曹学明;陈冠中;杨颖;杨亚飞设计研发完成，并于2024-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储设备可靠性预测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例公开了存储设备可靠性预测方法、装置、设备及存储介质，用于快速准确地评估存储设备的健康状态和提升存储设备使用的可靠性。本申请实施例方法包括：获取存储设备的设备状态信息；设备状态信息至少包括以下之一：超级块标称擦写次数、存储设备的存储空间中用户区域的超级块个数、存储设备的存储空间中系统区域的超级块个数、写放大系数；基于设备状态信息，确定存储设备的可靠性评价信息；可靠性评价信息至少包括以下之一：运行时每日整盘写入次数DWPD、用户区域的剩余寿命、系统区域的剩余寿命、用户区域的寿命消耗占比、系统区域的寿命消耗占比；根据可靠性评价信息，确定存储设备是否存在异常。
本发明授权存储设备可靠性预测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储设备可靠性预测方法，其特征在于，包括： 获取存储设备的设备状态信息；所述设备状态信息至少包括以下之一：超级块标称擦写次数、所述存储设备的存储空间中用户区域的超级块个数、所述存储设备的存储空间中系统区域的超级块个数、写放大系数； 基于所述设备状态信息，确定所述存储设备的可靠性评价信息；所述可靠性评价信息的确定方式至少包括以下之一： 计算运行时每日整盘写入次数DWPD并将其确定为所述存储设备的可靠性评价信息； 计算所述用户区域的剩余寿命、所述系统区域的剩余寿命以及数据写入开销比并将其确定为所述存储设备的可靠性评价信息； 计算所述用户区域的寿命消耗占比、所述系统区域的寿命消耗占比并将其确定为所述存储设备的可靠性评价信息； 根据所述可靠性评价信息，确定所述存储设备是否存在异常。
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