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龙图腾网获悉中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利一种基于电子探针的光纤组分测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119936094B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510286707.1，技术领域涉及：G01N23/2252；该发明授权一种基于电子探针的光纤组分测试方法是由朱源;张立华;张春;姜蕾;高聪设计研发完成，并于2025-03-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于电子探针的光纤组分测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于电子探针的光纤组分测试方法，涉及石英材料测试领域，该方法包括：对待测光纤样品进行镀碳处理；采用电子探针对镀碳后的待测光纤样品进行线扫描测试，得到每种待测元素的线扫描分析数据；采用电子探针对镀碳后的待测光纤样品进行定量分析测试，得到每种待测元素的定量分析数据；根据每种待测元素的线扫描分析数据及每种待测元素的定量分析数据，确定待测光纤样品的组分分布。本申请通过结合电子探针的线扫描和定量分析，提高了光纤组分的测试精度。

本发明授权一种基于电子探针的光纤组分测试方法在权利要求书中公布了：1.一种基于电子探针的光纤组分测试方法，其特征在于，所述基于电子探针的光纤组分测试方法包括： 对待测光纤样品进行镀碳处理，具体包括：将样品台放置在真空镀碳机的旋转台上，将镀碳仓的真空度抽至10-3pa以下，溅射碳棒，使待测光纤样品的切割面的表面具有均匀且厚度为20nm的碳膜； 采用电子探针对镀碳后的待测光纤样品进行线扫描测试，得到每种待测元素的线扫描分析数据； 采用电子探针对镀碳后的待测光纤样品进行定量分析测试，得到每种待测元素的定量分析数据； 根据每种待测元素的线扫描分析数据及每种待测元素的定量分析数据，确定待测光纤样品的组分分布，具体包括： 根据镀碳后的待测光纤样品的纤芯尺寸及线扫描测试的测试步长，对每种待测元素的线扫描分析数据进行位置归一化处理，得到初步线扫描曲线；具体根据测试坐标信息确定纤芯尺寸，将坐标信息的中位数设置为中心0点，将剩余位置信息按照线扫描测试的测试步长，分别向0点左右分布，得到初步线扫描曲线； 根据镀碳后的待测光纤样品的纤芯尺寸及定量分析测试的测试步长，对每种待测元素的定量分析数据进行位置归一化处理，得到初步定量分析曲线；具体根据测试坐标信息确定纤芯尺寸，将坐标信息的中位数设置为中心0点，将剩余位置信息按照定量分析测试的测试步长，分别向0点左右分布，得到初步定量分析曲线； 分别对所述初步线扫描曲线及所述初步定量分析曲线进行成分归一化处理，将所述初步线扫描曲线与所述初步定量分析曲线的极值点设置在同一标准线上，得到最终线扫描曲线及最终定量分析曲线； 根据所述最终线扫描曲线及所述最终定量分析曲线，确定待测光纤样品每个位置处每种元素的含量，以确定待测光纤样品的组分分布。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国工程物理研究院激光聚变研究中心，其通讯地址为：621999 四川省绵阳市绵山路64号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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