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龙图腾网获悉江苏华测品标检测认证技术有限公司申请的专利应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120334612B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510442184.5，技术领域涉及：G01R29/08；该发明授权应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法是由曹辉;李松;叶超设计研发完成，并于2025-04-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法，涉及磁感应测量技术领域，该方法通过构建自适应测量时间调节机制，利用变频信号源，逐步提升频率，通过测量屏蔽装置内外的磁感应强度，然后计算屏蔽效能，基于不同频率下的屏蔽效能曲线，对测量数据进行谐波分析，取每个频率点测得的磁场数据，进行快速傅里叶变换，判定是否有额外的谐波成分；构建屏蔽效能修复机制，根据谐波分析结果，测得的磁感应数据进行滤波。本发明通过通过快速傅里叶变换提取磁场数据的频谱成分，并计算总谐波畸变率，识别屏蔽装置是否存在额外的高频干扰，为屏蔽优化提供依据；通过谐波影响评估，确定高频屏蔽效能下降的关键频率。

本发明授权应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法在权利要求书中公布了：1.应用于磁感应强度计量用屏蔽装置的屏蔽效能测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 构建自适应测量时间调节机制，利用变频信号源，从最低频率fmin开始，逐步提升频率，在每个频率点，通过测量屏蔽装置内外的磁感应强度，然后计算屏蔽效能，得到不同频率下的屏蔽效能曲线； 基于不同频率下的屏蔽效能曲线，对测量数据进行谐波分析，取每个频率点测得的磁场数据，进行快速傅里叶变换，判定是否有额外的谐波成分； 构建屏蔽效能修复机制，即根据谐波分析结果，测得的磁感应数据进行滤波，修正屏蔽效能测量值，完善屏蔽效能曲线； 其中，所述自适应测量时间调节机制还包括：自适应调节测量时间：即在低频段，磁场变化较慢，则测量时间增加，在高频段，磁场变化较快，则缩短测量时间，具体采用非线性时间调节函数控制测量时间，计算公式为： 其中，Tmax为最低频率下的最大测量时间，β控制测量时间衰减速率的系数； 所述屏蔽效能的计算方法为： S101：在屏蔽装置内部布置多点磁感应传感器矩阵，即通过空间网格化9点布置方式，编号为i＝1,2,...,9，测量不同位置的磁感应强度Bin,if； S102：基于测量时间Tf，根据时间域滤波优化算法，优化测量后的磁感应强度； S103：采用数据融合算法，将优化后的磁感应强度进行数据整合，计算得到综合屏蔽效能值SEf； 所述时间域滤波优化算法的计算公式为： 其中，Bin,ff表示经过滤波后的屏蔽装置内的磁感应强度；f表示当前测量频率；j表示虚数单位；t0表示测量起始时间； 所述数据融合算法的计算公式为： 其中，wi表示距离权重因子，B＝％,if表示外部磁感应强度测量值。

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