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龙图腾网获悉深圳宏芯宇电子股份有限公司申请的专利闪存检测方法及闪存检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114283873B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111342765.X，技术领域涉及：G11C29/42；该发明授权闪存检测方法及闪存检测系统是由黄学楼设计研发完成，并于2021-11-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本闪存检测方法及闪存检测系统在说明书摘要公布了：本发明涉及数据存储技术领域，公开了一种闪存检测方法及闪存检测系统。闪存检测方法包括：从待测试Die中挑选待测试块，建立坏块表；以块为单位对待测试块执行擦除命令，将发生擦除错误的块在坏块表中的标记更新为第一标记；对通过擦除测试的待测试块执行写读操作，确定当前页的第一比特翻转个数；对第一比特翻转个数超过第一预设阈值的页，多次读取当前页的原始数据，根据读取结果确定第二比特翻转个数；若第二比特翻转个数超过第二预设阈值，则将当前页所在的块在坏块表中的标记更新为第二标记。本发明提供的技术方案进一步挖掘了那些虽然某次擦除读写成功但是实际上性能不稳定、极容易出错的块，能够更准确地筛选坏块，使闪存检测更加彻底。

本发明授权闪存检测方法及闪存检测系统在权利要求书中公布了：1.一种闪存检测方法，其特征在于，所述闪存检测方法包括： 从待测试Die中挑选待测试块，建立坏块表； 以块为单位对所述待测试块依次执行擦除命令，将发生擦除错误的块所对应的坏块表中的标记更新为第一标记； 在擦除所述待测试块并更新所述坏块表后，对所述待测试块执行写读操作，确定所述待测试块中当前页的第一比特翻转个数； 判断所述第一比特翻转个数是否超过第一预设阈值，其中，所述第一预设阈值小于纠错码可纠正的最大比特位数； 若所述第一比特翻转个数超过所述第一预设阈值，则多次读取当前页的原始数据，根据多次读取结果确定当前页的第二比特翻转个数，其中，第二比特翻转个数是当前页在多次读取过程中出现的比特位翻转错误的位置的个数之和，同样位置的比特位多次出错，只统计一次； 判断所述第二比特翻转个数是否超过第二预设阈值，其中，所述第二预设阈值小于纠错码可纠正的最大比特位数； 若所述第二比特翻转个数超过所述第二预设阈值，则将当前页所在的块所对应的坏块表中的标记更新为第二标记； 其中，一个Die至少包含两个Plane，一个Plane包括多个块，所述从待测试Die中挑选待测试块，建立坏块表包括： 从所述待测试Die中均匀挑选待测试块，使得每个Plane被选中的块个数相同且被选中的块与未被选中的块之间间隔均匀； 创建用于记录待测试块的测试结果的坏块表，其中，所述坏块表中每一个待测试块分别对应一个用于标识测试结果的标记； 其中，所述以块为单位对所述待测试块依次执行擦除命令，将发生擦除错误的待测试块在坏块表中对应的标记更新为第一标记包括： 以块为单位遍历所述待测试块，并对当前遍历的待测试块执行擦除操作； 判断当前遍历的待测试块执行擦除操作是否失败，若是，则将所述坏块表中当前遍历的待测试块对应的标记更新为第一标记； 判断当前遍历的待测试块是否为最后的待测试块，若是，则结束遍历。

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