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龙图腾网获悉艾尔默斯半导体欧洲股份公司;量子技术UG(极限)公司申请的专利通过多个NV中心测量磁通量密度和其它参数的方法和装置及其应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115244364B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080092118.5，技术领域涉及：G01D5/26；该发明授权通过多个NV中心测量磁通量密度和其它参数的方法和装置及其应用是由贝恩德·布尔查德;简·梅耶尔设计研发完成，并于2020-11-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本通过多个NV中心测量磁通量密度和其它参数的方法和装置及其应用在说明书摘要公布了：本发明涉及具有量子点的传感器系统NVMS，其可以包括顺磁中心NV1。传感器系统包括控制评估装置AWV，该控制评估装置AWV优选地具有第一泵浦辐射源PL1、辐射接收器PD1，并且根据传输信号S5通过第一泵浦辐射源PL1用泵浦辐射LB照射量子点。在量子点被泵浦辐射LB照射时发射取决于物理参数的荧光辐射FL。控制评估装置AWV根据荧光辐射FL产生具有表示测量值的信号分量的第一输出信号out。测量值取决于物理参数的值。控制评估装置AWV通过一个或多个补偿线圈LC调节量子点的对于物理参数的灵敏度，使得辐射接收器PD1的接收器输出信号S0不再具有传输信号S5的任何分量。

本发明授权通过多个NV中心测量磁通量密度和其它参数的方法和装置及其应用在权利要求书中公布了：1.一种传感器系统NVMS，其具有： -具有多个顺磁中心NV1的量子点，并且 -其中，所述多个顺磁中心NV1中的两个以上的顺磁中心NV1相互耦合；以及 -控制评估装置AWV； -其中，所述控制评估装置AWV包括第一泵浦辐射源PL1，并且 -其中，所述控制评估装置AWV包括第一辐射接收器PD1，并且 -其中，所述控制评估装置AWV至少暂时地通过所述第一泵浦辐射源PL1用泵浦辐射LB照射所述量子点，并且 -其中，所述第一泵浦辐射源PL1的所述泵浦辐射LB取决于所述控制评估装置AWV的传输信号S5，并且 -其中，所述量子点在被所述泵浦辐射LB照射时发射荧光辐射FL，并且 -其中，所述荧光辐射FL取决于所述量子点的位置处的磁通量密度B和或不同于所述磁通量密度的物理参数，并且 -其中，所述控制评估装置AWV根据所述荧光辐射FL产生具有表示测量值的信号分量的第一输出信号out，并且 -其中，所述测量值取决于所述磁通量密度B和或不同于所述磁通量密度的所述物理参数的值， -其特征在于， -所述控制评估装置AWV通过作为一个或多个补偿线圈LC的形式的子装置来重新调节所述量子点对于所述磁通量密度B和或不同于所述磁通量密度的所述物理参数的灵敏度，并且 -所述控制评估装置AWV通过所述子装置根据所述控制评估装置AWV的第一输出信号out重新调节所述量子点的所述灵敏度，并且 -第二乘法器M2将所述第一输出信号out与所述传输信号S5相乘，并因而将所述第一辐射接收器PD1的接收器输出信号S0中的所述传输信号S5的放大分量重构为反馈信号S6，并且 -减法器A1从所述接收器输出信号S0中减去所述反馈信号S6，从而形成减小的接收器输出信号S1，并且 -第一乘法器M1将所述减小的接收器输出信号S1与所述传输信号S5相乘，并且产生滤波器输入信号S3，并且 -滤波器TP将所述滤波器输入信号S3滤波为所述第一输出信号out，并且 -控制器RG从所述第一输出信号out中推导出操作点控制信号S9，并且 -所述控制器RG以第一时间常数τ1执行控制，并且 -所述滤波器TP以第二时间常数τ2执行补偿控制，并且 -所述控制器RG的所述第一时间常数τ1大于所述滤波器TP的所述第二时间常数τ2，并且 -在所述多个顺磁中心NV1的位置处的所述磁通量密度B的值发生变化或不同于所述磁通量密度的所述物理参数的值发生变化的情况下，所述控制器RG通过减小或增加由所述控制器RG提供的所述补偿线圈LC的线圈电流而使所述多个顺磁中心NV1的位置处的总的所述磁通量密度B朝向操作点移动，并且 -因此，所述控制评估装置AWV通过所述反馈信号S6以补偿方式执行所述重新调节， ·使得除信号噪声和控制误差之外，所述减小的接收器输出信号S1在所述减小的接收器输出信号S1中不再具有所述传输信号S5的任何分量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人艾尔默斯半导体欧洲股份公司;量子技术UG(极限)公司，其通讯地址为：德国多特蒙德；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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