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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利激光跟踪位姿测量靶标装置及方法、隐藏点测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115902911B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211495984.6，技术领域涉及：G01S17/06；该发明授权激光跟踪位姿测量靶标装置及方法、隐藏点测量装置是由崔成君;董登峰;王博;朱志忠;程智;高豆豆;李洋;王国名;张滋黎;周维虎;王宇设计研发完成，并于2022-11-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本激光跟踪位姿测量靶标装置及方法、隐藏点测量装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种激光跟踪位姿测量靶标装置，应用于几何测量技术领域，包括：呈凸台状的靶标腔体，具有凸台上表面和凸台下表面，反射器支座，设置于所述靶标腔体的所述凸台的中心位置处，光学逆反射器，设置于所述反射器支座上，至少两对特征点光源，设置于所述凸台上表面和所述凸台下表面，且每对所述特征点光源均相对于所述光学逆反射器中心对称分布，至少一个漫反射片，每个所述漫反射片均安装于一所述特征点光源的出光口位置处。本发明还提供了一种六自由度激光跟踪位姿测量方法、隐藏点测量装置，可配合激光跟踪仪实现空间三维坐标、三维姿态角以及隐藏点位置测量。

本发明授权激光跟踪位姿测量靶标装置及方法、隐藏点测量装置在权利要求书中公布了：1.一种激光跟踪位姿测量靶标装置，其特征在于，包括： 呈凸台状的靶标腔体106，具有凸台上表面和凸台下表面； 反射器支座105，设置于所述靶标腔体106的所述凸台的中心位置处，可拆卸安装不同大小的光学逆反射器； 光学逆反射器103，设置于所述反射器支座105上，并通过靶标腔体106顶部的通孔接收激光跟踪仪的测量激光； 至少两对特征点光源101，设置于所述凸台上表面和所述凸台下表面，且每对所述特征点光源101均相对于所述光学逆反射器103对称分布； 至少一个漫反射片102，每个所述漫反射片102均安装于一所述特征点光源101的出光口位置处； 至少两个立柱104，可拆卸安装于所述靶标腔体106的凸台上表面的对角位置且相对于光学逆反射器103对称，所述至少两个立柱104的顶面上均安装有所述特征点光源101和所述漫反射片102，其中，所述靶标腔体106凸台上表面的特征点光源101和所述靶标腔体106凸台下表面的特征点光源101配合立柱104上的特征点光源101实现特征点光源101的空间立体分布。

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