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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所王之一获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法及其系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120997277B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511509949.9,技术领域涉及:G06T7/60;该发明授权一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法及其系统是由王之一;孙政奇;王琪;刘昌华;王建立;冯晓鹏;张雯钰设计研发完成,并于2025-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。

一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法及其系统在说明书摘要公布了:本申请提供了一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法及其系统,涉及光学检测技术领域。本申请的计算方法,包括:采集探测器下表面定位点、上表面基准点及像元点云坐标,进行去重与坐标校准;基于上下表面基准点分别构建初始平面并融合为双表面初始平均趋势面;根据像元到趋势面的距离生成先验权重;以初始平面参数为迭代初值,在先验权重引导下迭代求解双平面协同优化目标函数,同步获取上下表面精平面参数;最终计算两平面法向量夹角得到平行度。本发明通过双表面趋势面构建与协同优化机制,有效抑制离群点干扰,避免分步拟合的误差累积,显著提升了平行度计算的精度与稳健性,尤其适用于高分辨率光学探测器的精密装调。

本发明授权一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法及其系统在权利要求书中公布了:1.一种探测器双平面联合优化的平行度的计算方法,其特征在于,包括以下步骤: 获取探测器下表面至少四个定位点坐标、上表面至少三个基准点坐标以及上表面全部的像元点云的坐标; 对所述上表面的基准点和所述上表面全部的像元点云的坐标,进行去除重复数据、坐标校准; 根据下表面定位点和上表面基准点,分别计算下表面初始平面参数和上表面初始平面参数,构建双表面初始平均趋势面; 根据上表面各像元到所述双表面初始平均趋势面的距离,获取先验权重; 以所述下表面初始平面参数和所述上表面初始平面参数为迭代初始值,利用所述先验权重,迭代求解双平面协同优化目标函数,同步获取下表面平面参数和上表面平面参数; 根据所述下表面平面参数和所述上表面平面参数,获取所述探测器上表面、下表面夹角的角度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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