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北京理工大学李真珍获国家专利权

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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115639114B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-01-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211183343.7,技术领域涉及:G01N13/02;该发明授权基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法是由李真珍;马雪;黄彦如设计研发完成,并于2022-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。

基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法在说明书摘要公布了:本发明公开一种基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法,通过在粘弹性溶液中加入示踪颗粒,制备成含有示踪颗粒的粘弹性溶液的液膜,在其上滴入表面活性剂液滴从而在液膜表面产生表面张力梯度,通过测量粘弹性液体在剪切铺展运动时示踪颗粒的最大位移,可得出粘弹性液膜剪切运动的应变大小;同时根据液膜运动位移和表面张力梯度得出此时的剪切应力大小,从而建立剪切作用下剪切应力与剪切应变的相关性模型,计算出粘弹性液膜的弹性剪切模量。与现有的流变仪测量弹性液体的剪切模量的技术相比,本发明为粘弹性液体的弹性剪切模量的测量提供了一种新的方法;且所需试样量大为减少,对珍贵液体的测量具有重要意义。

本发明授权基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法在权利要求书中公布了:1.基于颗粒示踪法测量粘弹性液体弹性剪切模量的方法,其特征在于:包括以下步骤: 在待测粘弹性液体试样中加入多颗示踪颗粒,所述示踪颗粒的密度与待测粘弹性液体的密度差小于等于5%; 对含示踪颗粒的粘弹性液体的表面张力S1进行测量; 对表面活性剂的表面张力S2进行测量; 将加入示踪颗粒的待测粘弹性液体在光滑平面上铺开,形成液膜; 在液膜的表面滴加所述表面活性剂,液膜及示踪颗粒在表面张力梯度的作用下运动; 观测液膜及示踪颗粒的运动情况,获取示踪颗粒在发生回缩的拐点时刻,液膜运动最前端与表面活性剂滴落位置的距离x及该时刻示踪颗粒运动的最大位移δr; 根据公式ε=δrh0计算剪切应变ε,根据公式σ=Sx计算剪切应力σ;其中h0为液膜的初始平均厚度,S为表面张力差,S=S1-S2; 将多个示踪颗粒对应的剪切应力和剪切应变数据绘制在XY坐标系中,进行线性拟合,拟合直线的斜率即为弹性剪切模量G; 所述示踪颗粒浓度需在1.6×107个cm2数量级; 所述表面活性剂的浓度为大于10倍的临界胶束浓度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京理工大学,其通讯地址为:100081 北京市海淀区中关村南大街5号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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