波音公司约瑟夫·L·哈芬西特尔获国家专利权
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龙图腾网获悉波音公司申请的专利用于跟踪扫描仪的位置的方法以及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN112630304B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-03发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010724762.1,技术领域涉及:G01N29/06;该发明授权用于跟踪扫描仪的位置的方法以及系统是由约瑟夫·L·哈芬西特尔;詹姆斯·J·特洛伊;加里·E·乔治森设计研发完成,并于2020-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于跟踪扫描仪的位置的方法以及系统在说明书摘要公布了:公开了用于跟踪扫描仪的位置的方法以及系统。具体地,用于使用由无损检查NDI扫描仪获取的目标物体的图像来跟踪NDI扫描仪的位置的系统和方法。该系统包括框架、由该框架支撑的NDI扫描仪、被配置为能够使框架机动化运动的系统、以及计算机系统,该计算机系统通信耦接以接收来自NDI扫描仪的传感器数据并跟踪该NDI扫描仪的位置。该NDI扫描仪包括二维传感器阵列。当处于目标物体的表面上的不同位置时,由二维传感器阵列重复地获取表面下的深度传感器数据并从二维传感器阵列输出。将所得到的二维扫描图像序列馈送到图像处理和特征点比较模块,该图像处理和特征点比较模块被配置为使用在所获取的扫描图像中可见的虚拟特征来跟踪扫描仪相对于目标物体的位置。
本发明授权用于跟踪扫描仪的位置的方法以及系统在权利要求书中公布了:1.一种用于跟踪扫描仪的位置的方法,所述方法包括: a将扫描仪14的传感器阵列60邻近目标物体的表面放置,使得所述传感器阵列以所述传感器阵列上的参考点在所述目标物体的所述表面上的第一位置的方式覆盖所述目标物体的第一结构特征,其中,所述第一位置在所述目标物体的所述表面上具有已知的第一X位置坐标和第一Y位置坐标,其中所述传感器阵列是二维的; b当所述参考点处于所述第一位置时,从所述目标物体的面对所述传感器阵列的第一部分获取第一组传感器数据; c将所述第一组传感器数据转换为第一扫描图像42a的第一扫描图像数据; d在所述目标物体的所述表面上平移所述扫描仪,直到所述参考点位于与所述第一位置相距一定距离的第二位置处,同时所述传感器阵列再次覆盖所述第一结构特征; e当所述参考点处于所述第二位置时,从所述目标物体的面对所述传感器阵列的第二部分获取第二组传感器数据; f将所述第二组传感器数据转换为第二扫描图像42b的第二扫描图像数据; g找到所述第一扫描图像和所述第二扫描图像中的特征点48; h确定在步骤g中找到的哪些特征点是所述第一扫描图像和所述第二扫描图像中的共同特征点48a; i计算所述共同特征点之间的像素位置差值;和 j至少部分地基于所述第一Y位置坐标和在步骤i中计算的所述像素位置差值,计算在所述目标物体的所述表面上的所述第二位置处的所述参考点的第二Y位置坐标, 其中,步骤j包括: 计算第一像素偏移,所述第一像素偏移等于所述共同特征点在所述第二扫描图像中的位置相对于所述共同特征点在所述第一扫描图像中的位置偏移的所述传感器阵列的像素行的数量; 将所述第一像素偏移乘以相邻传感器行之间的距离以形成乘积,所述乘积等于在步骤d期间所述扫描仪在垂直于所述传感器行的方向上平移的第一距离;和 将所述第一距离与所述第一Y位置坐标相加,得到所述参考点的所述第二Y位置坐标。
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