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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利一种芯片故障的测试方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121255557B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511832805.7，技术领域涉及：G06F11/26；该发明授权一种芯片故障的测试方法和电子设备是由翟荣丽设计研发完成，并于2025-12-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片故障的测试方法和电子设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种芯片故障的测试方法和电子设备，涉及故障测试技术领域，应用于芯片故障的测试系统，方法包括：基板信号控制模块生成与待测试芯片的至少一个待测试功能对应的故障指令；故障信号解析模块对生成的故障指令进行解析，得到故障类型，并基于故障指令触发待测试芯片进入故障状态；响应于待测试芯片进入故障状态，获取寄存器数据和黑盒数据；基于寄存器数据、黑盒数据以及故障类型，获取测试结果；当测试结果指示待测试功能正常，故障恢复模块解除故障状态，并循环执行下一待测试功能的测试；当测试结果指示待测试功能异常，故障恢复模块保持待测试芯片处于故障状态；本申请解决了相关技术中芯片的故障测试效率低的问题。

本发明授权一种芯片故障的测试方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片故障的测试方法，其特征在于，应用于芯片故障的测试系统，所述测试系统包括：基板信号控制模块、故障信号解析模块、寄存器校验模块、故障恢复模块、待测试芯片、寄存器和黑盒；其中，所述待测试芯片内部包含所述寄存器和所述黑盒，所述黑盒用于记录所述寄存器的状态；所述方法包括： 所述基板信号控制模块生成与待测试芯片的至少一个待测试功能对应的故障指令； 所述故障信号解析模块对所述基板信号控制模块生成的所述故障指令进行解析，得到故障类型，并基于所述故障指令触发所述待测试芯片进入故障状态； 响应于所述待测试芯片进入所述故障状态，所述寄存器校验模块获取寄存器数据和黑盒数据；其中，所述寄存器数据用于表征所述待测试芯片故障时的内部状态，所述黑盒数据用于表征黑盒记录的故障事件与故障信息； 所述寄存器校验模块基于所述寄存器数据、所述黑盒数据以及所述故障类型，获取测试结果； 当所述测试结果指示所述待测试功能正常，所述故障恢复模块解除所述故障状态，并循环执行下一待测试功能的测试； 当所述测试结果指示所述待测试功能异常，所述故障恢复模块保持所述待测试芯片处于所述故障状态； 其中，所述寄存器校验模块基于所述寄存器数据、所述黑盒数据以及所述故障类型，获取测试结果，包括：所述寄存器校验模块将所述寄存器数据与所述黑盒数据进行对比，得到对比结果；当所述寄存器数据与所述黑盒数据一致，且所述对比结果与所述故障类型一致时，确定所述测试结果为所述待测试功能正常；当所述寄存器数据与所述黑盒数据一致，且所述对比结果与所述故障类型不一致时，确定所述测试结果为所述待测试功能异常；当所述寄存器数据与所述黑盒数据不一致时，确定所述测试结果为所述待测试功能异常。

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