清华大学张建伟获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学申请的专利二阶多普勒频移的补偿系统、方法和电子设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119626884B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411646086.5,技术领域涉及:H01J49/00;该发明授权二阶多普勒频移的补偿系统、方法和电子设备是由张建伟;郑莹设计研发完成,并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本二阶多普勒频移的补偿系统、方法和电子设备在说明书摘要公布了:本申请涉及一种二阶多普勒频移的补偿系统、方法和电子设备。所述系统包括电流源、控制器和两个平行且共轴设置的载流环,两个所述载流环设置在离子阱两侧,各所述载流环上缠绕有通电线圈;所述电流源连接各所述载流环上缠绕的通电线圈;所述控制器分别和所述电流源通信连接;所述控制器,用于在所述离子阱为多离子体系的情况下,控制所述电流源在两个所述载流环的通电线圈通入流动方向相反的激励电流,以在两个所述载流环圆心连线的中点处产生梯度磁场;所述梯度磁场产生的二阶塞曼频移用于补偿二阶多普勒频移。采用本系统能够使得降低二阶多普勒效应过程变得简单。
本发明授权二阶多普勒频移的补偿系统、方法和电子设备在权利要求书中公布了:1.一种二阶多普勒频移的补偿系统,其特征在于,所述系统包括电流源、控制器和两个平行且共轴设置的载流环,两个所述载流环设置在离子阱两侧,各所述载流环上缠绕有通电线圈;所述电流源连接各所述载流环上缠绕的通电线圈;所述控制器分别和所述电流源通信连接;所述载流环包括多个同心设置的子载流环,各所述子载流环的半径不同;其中一个所述子载流环的半径为,两个所述载流环之间的间距为,其中,R为长度; 所述控制器,用于控制所述电流源在两个所述载流环的通电线圈通入流动方向相反的激励电流,以在两个所述载流环圆心连线的中点处产生梯度磁场;所述梯度磁场产生的二阶塞曼频移用于补偿二阶多普勒频移;所述离子阱为多离子体系。
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