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山东大学李阳获国家专利权

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龙图腾网获悉山东大学申请的专利一种ε-Ga2O3薄膜、亚稳相氧化镓紫外探测器及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120844192B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511189294.1,技术领域涉及:C30B25/18;该发明授权一种ε-Ga2O3薄膜、亚稳相氧化镓紫外探测器及其制备方法是由李阳;徐梦凡;岳林凯;赵馨蕊;穆文祥;贾志泰设计研发完成,并于2025-08-25向国家知识产权局提交的专利申请。

一种ε-Ga2O3薄膜、亚稳相氧化镓紫外探测器及其制备方法在说明书摘要公布了:本发明属于宽禁带半导体技术制备技术领域,公开了一种εε‑Ga22O33薄膜、亚稳相氧化镓紫外探测器及其制备方法,包括如下步骤:将洁净预处理的衬底加热至550‑610℃,并向其中通入载气和稀释气体的混合气体设定时间,外延低掺εε‑Ga22O33薄膜;生长结束后,将反应腔内温度加热至620‑700℃,外延高掺εε‑Ga22O33薄膜。双层结构与掺杂相结合,以缓解晶格失配,促进εε‑Ga22O33的形成。Ge掺杂过程中,Ge4+4+成功替代Ga3+3+导致晶格常数变小,进而缓解薄膜压应力,使得εε‑Ga22O33外延膜的晶体质量有所提升。

本发明授权一种ε-Ga2O3薄膜、亚稳相氧化镓紫外探测器及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种ε-Ga2O3薄膜的制备方法,其特征在于:包括如下步骤: 将洁净预处理的衬底加热至550-610℃,并向其中通入载气和稀释气体的混合气体设定时间,然后将Ge掺杂浓度为1-5%的低掺杂氧化镓前驱体溶液雾化加入,外延低掺ε-Ga2O3薄膜; 生长结束后,将反应腔内温度加热至620-700℃,保持气氛不变,将Ge掺杂浓度为5-8%的高掺杂氧化镓前驱体溶液雾化加入,外延高掺ε-Ga2O3薄膜。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人山东大学,其通讯地址为:250000 山东省济南市历城区山大南路27号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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