深圳市伟智半导体有限公司殷濛濛获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市伟智半导体有限公司申请的专利多光源3D/AOI快速检测装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223955462U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520269002.4，技术领域涉及：G01N21/88；该实用新型多光源3D/AOI快速检测装置是由殷濛濛设计研发完成，并于2025-02-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本多光源3D/AOI快速检测装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了多光源3DAOI快速检测装置，涉及产品质量检测技术领域。本实用新型包括检测平台，以及与检测平台适配安装的检测组件；检测平台上侧设置用于待测物体安装的定位组件；所述检测组件包括用于提供均匀光照的平面光源、用于突出表面特征的斜射光源、设置于检测平台斜上方的图像采集单元；所述检测组件经内部导线连接有控制系统，其所述控制系统，所述控制系统包括三维重建模组、经内部局域网与三维重建模组相连的缺陷分析模组，以及用于数据存储的储存模组。本实用新型通过设置平面光源和斜射光源相结合，实现了对物体表面特征的清晰展现，定位组件确保待检测物体在检测过程中的精确定位和灵活转动，适应不同形状和尺寸的物体检测需求。
本实用新型多光源3D/AOI快速检测装置在权利要求书中公布了：1.多光源3DAOI快速检测装置，包括检测平台100，以及与检测平台100适配安装的检测组件200，其特征在于： 检测平台100上侧设置用于待测物体安装的定位组件300； 所述检测组件200包括用于提供均匀光照的平面光源201、用于突出表面特征的斜射光源202、设置于检测平台100斜上方的图像采集单元203； 所述检测组件200经内部导线连接有控制系统400，其所述控制系统400，所述控制系统400包括三维重建模组401、经内部局域网与三维重建模组401相连的缺陷分析模组402，以及用于数据存储的储存模组403。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人深圳市伟智半导体有限公司，其通讯地址为：518000 广东省深圳市南山区蛇口街道深圳湾社区中心路2233号宝能太古城花园南区D13D；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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