天津津海博达电子有限公司师甜甜获国家专利权
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龙图腾网获悉天津津海博达电子有限公司申请的专利一种电子元器件老化测试设备获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223955634U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520076821.7，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型一种电子元器件老化测试设备是由师甜甜;刘贤宝;蔡俊霞;罗奎英;师顺武设计研发完成，并于2025-01-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电子元器件老化测试设备在说明书摘要公布了：本实用新型涉及电子元器件技术领域，公开了一种电子元器件老化测试设备，包括供电座，供电座上嵌入设有若干排插，供电座两侧设有若干可收卷的数据线，供电座侧壁上固定设有收纳数据线的收纳盒，收纳盒上设有供数据线穿过的槽口，供电座两端固定设有若干与排插和数据线供电的电线，供电座下方设有散热机构，供电座上方可拆卸设有设备放置架。本实用新型的优点在于：插座和数据线分类效果好，不容易杂乱，有放置检测电子设备的设备架。
本实用新型一种电子元器件老化测试设备在权利要求书中公布了：1.一种电子元器件老化测试设备，包括供电座1，其特征在于：所述供电座1上嵌入设有若干排插2，所述供电座1两侧设有若干可收卷的数据线3，所述供电座1侧壁上固定设有收纳数据线3的收纳盒4，所述收纳盒4上设有供数据线穿过的槽口5，所述供电座1两端固定设有若干与排插2和数据线3供电的电线6，所述供电座1下方设有散热机构，所述供电座1上方可拆卸设有设备放置架7。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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