国芯准测试技术(上海)有限公司李刚获国家专利权
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龙图腾网获悉国芯准测试技术(上海)有限公司申请的专利基于集成电路芯片测试用芯片测试台获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223955655U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520463773.7，技术领域涉及：G01R1/04；该实用新型基于集成电路芯片测试用芯片测试台是由李刚;朱磊;窦恒设计研发完成，并于2025-03-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于集成电路芯片测试用芯片测试台在说明书摘要公布了：本实用新型涉及芯片测试技术领域，且公开了基于集成电路芯片测试用芯片测试台，包括测试台，所述测试台的上部固定连接有支撑板，所述支撑板的前部固定连接有连接板，所述连接板的内部活动连接有活动柱，所述连接板的下部固定连接有弹簧，所述活动柱的上部铰接有驱动块。本实用新型通过九十度转动驱动块从而带动活动柱位于连接板的内部升降，然而由于驱动块位于垂直状态时弹簧具有拉伸的弹性势能，并使得限位板能够进行高度调节，并由于限位板的形状设计，使得压紧结构具有压紧和松开两种状态，并通过转动内螺纹旋钮从而带动压紧结构下降，本装置可实现芯片的快速压紧，方便对芯片进行测试时，芯片不会晃动，并且能够适应不同厚度的芯片测试。
本实用新型基于集成电路芯片测试用芯片测试台在权利要求书中公布了：1.基于集成电路芯片测试用芯片测试台，包括测试台1，其特征在于：所述测试台1的上部固定连接有支撑板2，所述支撑板2的前部固定连接有连接板3，所述连接板3的内部活动连接有活动柱4，所述连接板3的下部固定连接有弹簧5，所述活动柱4的上部铰接有驱动块6，所述活动柱4的下部固定连接有限位板7，所述连接板3的下部固定连接有伸缩杆8，所述伸缩杆8的表面与限位板7的内部活动连接，所述限位板7的下部设置有调节结构，所述调节结构的下部设置有压紧结构。
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