保定华电天德科技园有限公司杨聪聪获国家专利权
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龙图腾网获悉保定华电天德科技园有限公司申请的专利用于芯片敏感度测试的简易TEM小室获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223955710U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520458623.7，技术领域涉及：G01R31/00；该实用新型用于芯片敏感度测试的简易TEM小室是由杨聪聪;罗广孝;张艺哲;张进雨;卢艺;何宇航;陈文颖;韩丽萌设计研发完成，并于2025-03-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于芯片敏感度测试的简易TEM小室在说明书摘要公布了：本实用新型提供了一种用于芯片敏感度测试的简易TEM小室，包括小室本体和稳固构件；小室本体的底部设有PCB底板，PCB底板的两端伸出小室本体；小室本体的顶壁中心开设有测试窗口，测试窗口上盖设有测试盖板；小室本体的两端均为棱锥形并分别形成SMA端口；稳固构件包括硬质泡沫板和两个PCB竖板，两个PCB竖板分别对应连接于PCB底板的两端，且两个PCB竖板的中心分别与两个SMA端口对应连接；硬质泡沫板设于小室本体内部并用于支撑小室本体的两个相对侧内壁。本实用新型提供的用于芯片敏感度测试的简易TEM小室，不仅能够提高小室本体自身的结构稳定性，而且能够提高整体结构稳固性以及测试性能稳定性。
本实用新型用于芯片敏感度测试的简易TEM小室在权利要求书中公布了：1.用于芯片敏感度测试的简易TEM小室，其特征在于，包括小室本体和稳固构件；所述小室本体的底部设有PCB底板，所述PCB底板的两端伸出所述小室本体；所述小室本体的顶壁中心开设有测试窗口，所述测试窗口上盖设有测试盖板；所述小室本体的两端均为棱锥形并分别形成SMA端口； 所述稳固构件包括硬质泡沫板和两个PCB竖板，两个所述PCB竖板分别对应连接于所述PCB底板的两端，且两个所述PCB竖板的中心分别与两个所述SMA端口对应连接；所述硬质泡沫板设于所述小室本体内部并用于支撑所述小室本体的两个相对侧内壁。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人保定华电天德科技园有限公司，其通讯地址为：071000 河北省保定市北二环路5699号大学科技园5号楼101、102室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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