广立微(上海)技术有限公司毛聪获国家专利权
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龙图腾网获悉广立微(上海)技术有限公司申请的专利一种标准单元测试结构获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223955750U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-02-27发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520101763.9，技术领域涉及：G01R31/317；该实用新型一种标准单元测试结构是由毛聪;林均铭设计研发完成，并于2025-01-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种标准单元测试结构在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种标准单元测试结构，包括M个模块，M个所述模块根据所述标准单元实际物理环境划分得到，所述标准单元通过M个所述模块中的N个基本元件进行穷举表征；其中，第i个所述模块包括Nii个基本元件和与Nii个所述基本元件直连的多个PAD；其中，1≤i≤M，N11+...+Nii...+NMM＝N；每个所述模块中所述PAD的数量与对应模块中所述基本元件测试用PAD的数量匹配，用于将各个所述基本元件通过所述PAD接出测试，且每个所述模块中PAD的最大数量不大于测试机探针卡支持的引脚数量。本申请通过M个模块不同位置的测试结果来表征标准单元整个复杂结构的实际工艺情况。
本实用新型一种标准单元测试结构在权利要求书中公布了：1.一种标准单元测试结构，其特征在于，包括M个模块，M个所述模块根据所述标准单元实际物理环境划分得到，所述标准单元通过M个所述模块中的N个基本元件进行穷举表征；其中， 第i个所述模块包括Ni个基本元件和与Ni个所述基本元件直连的多个PAD；其中，1≤i≤M，N1+...+Ni...+NM＝N； 每个所述模块中所述PAD的数量与对应模块中所述基本元件测试用PAD的数量匹配，用于将各个所述基本元件通过所述PAD接出测试，且每个所述模块中PAD的最大数量不大于测试机探针卡支持的引脚数量。
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