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龙图腾网获悉波音公司申请的专利用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113324992B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110211600.2，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统是由亚历山大·J·科科;布里安娜·K·诺德;罗伯特·W·格鲁贝;艾玛·罗明;阿伦·C·德罗莱特;埃里克·M·查普曼设计研发完成，并于2021-02-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统在说明书摘要公布了：公开了用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统。用于检测增材制造材料中的杂质的示例方法包括：通过光源用光照射增材制造材料的样品；在用光照射增材制造材料的样品的同时，使相机获取样品的图像数据；以及处理该图像数据以确定增材制造材料的样品中的杂质的量。用于检测增材制造材料中的杂质的示例系统包括：光源，用于用光照射增材制造材料的样品；相机，用于在用光照射增材制造材料的样品的同时获取样品的图像数据；具有一个或多个处理器的计算设备，该一个或多个处理器被配置为执行存储在存储器中的指令，以处理图像数据，从而确定增材制造材料的样品中的杂质的量。

本发明授权用于检测增材制造材料中杂质的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种用于检测增材制造材料中的杂质的方法200，所述方法包括： 通过光源102用光107照射202增材制造材料106的顶层； 在用所述光107照射所述增材制造材料106的所述顶层的同时，使相机108获取204所述顶层的图像数据109；和 处理206所述图像数据109以确定所述增材制造材料106的所述顶层中的杂质130的量， 其中，所述照射202包括： 用第一波长的第一光源102照射所述增材制造材料的所述顶层，并使所述相机获取所述顶层的第一图像数据； 用第二波长的第二光源118照射所述增材制造材料的所述顶层，并使所述相机获取所述顶层的第二图像数据；以及 其中，所述处理206包括： 处理所述第一图像数据和所述第二图像数据以确定所述增材制造材料的所述顶层中的杂质的量； 其中，处理所述第一图像数据和所述第二图像数据以确定所述增材制造材料的所述顶层中的杂质的量包括： 基于处理所述第一图像数据确定第一杂质量； 基于处理所述第二图像数据确定第二杂质量；和 将所述第一杂质量和所述第二杂质量相加。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人波音公司，其通讯地址为：美国伊利诺斯州；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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