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龙图腾网获悉南方科技大学申请的专利一种样品形变信息的确定方法、装置、电子设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119063644B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411242146.7，技术领域涉及：G01B11/16；该发明授权一种样品形变信息的确定方法、装置、电子设备及介质是由蔡宇航;佘文婧;封晟昀;郭亮设计研发完成，并于2024-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种样品形变信息的确定方法、装置、电子设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种样品形变信息的确定方法、装置、电子设备及介质，涉及光热检测技术领域，该方法包括：在待测样品的样品表面被泵浦光激发且探测光探测被激发后的样品表面的任一点位后，获取探测装置确定的信号光和参考光转化为电信号后之间的差值信号；采用预设算法，对差值信号进行处理，确定SPR元件表面等离激元共振光学元件的反射率改变量；基于配置的SPR元件的反射率与探测光在待测样品上反射角的对应关系，确定SPR元件的反射率改变量对应的反射角变化量；根据反射角变化量，确定待测样品的样品表面上相应点位的形变信息。该方法利用SPR元件，实现待测样品的反射率测量与表面形变信息的直接转化，能够保证形变信息测量精度。

本发明授权一种样品形变信息的确定方法、装置、电子设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种样品形变信息的确定方法，其特征在于，所述方法包括： 在待测样品的样品表面被泵浦光激发且探测光探测被激发后的样品表面的任一点位后，获取探测装置确定的信号光和参考光转化为电信号后之间的差值信号；其中，所述参考光为探测光经待测样品反射后的反射光经分束后形成的光束；所述信号光为所述反射光经分束后进入所述探测装置中SPR元件的光束；所述参考光和信号光均由被待测样品反射后的探测光经分束片分束形成，且分束后的参考光经中性密度衰减片调节强度后进入平衡光电探测器； 采用预设算法，对所述差值信号进行处理，确定所述SPR元件的反射率改变量；其中，所述SPR元件的反射率改变量是待测样品被泵浦光激发，待测样品的样品表面发生形变后SPR元件的反射率的改变量；所述预设算法通过使SPR元件在待测样品未被激发时的反射率与中性密度衰减片的透射率相等，消除待测样品自身反射率变化对获取SPR元件反射率改变量的干扰； 基于配置的SPR元件的反射率与探测光在待测样品上反射角的对应关系，确定所述SPR元件的反射率改变量对应的反射角变化量；其中，所述反射角变化量为探测光在待测样品的样品表面反射角的变化量； 根据所述反射角变化量，确定所述待测样品的样品表面上相应点位的形变信息； 其中，所述探测装置包括：依次设置的激光器、第一分束镜、斩波器、第一反射镜、电动旋转位移台、第一聚焦透镜和样品台；其中，所述电动旋转位移台上设置有D型反射镜； 所述探测装置中的所述第一分束镜与所述第一聚焦透镜间依次设置延迟台、第二反射镜和分束片；所述分束片后方依次设置第二分束镜和中性密度衰减片，所述第二分束镜的侧方依次设置第二聚焦透镜和SPR元件；所述中性密度衰减片和所述SPR元件的下方设置平衡光电探测器；示波器和锁相放大器分别与所述平衡光电探测器相连；其中，所述延迟台上设置有第三反射镜和第四反射镜；所述平衡光电探测器的输出通道包括第一通道、第二通道和第三通道。

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