华南理工大学陈斯源获国家专利权
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龙图腾网获悉华南理工大学申请的专利一种电池寿命预测方法、装置、设备、介质及程序产品获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119165389B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411473954.4,技术领域涉及:G01R31/392;该发明授权一种电池寿命预测方法、装置、设备、介质及程序产品是由陈斯源设计研发完成,并于2024-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电池寿命预测方法、装置、设备、介质及程序产品在说明书摘要公布了:本发明涉及锂离子电池优化电芯技术领域,公开了一种电池寿命预测方法、装置、设备、介质及程序产品,方法包括:获取多个同批次电池样本;分别在多个不同的预设温度条件下对不同的电池样本进行充放电循环;在充放电循环过程中,对电池样本提取各预设温度条件下、不同循环圈数对应的放电容量数据;根据提取的放电容量数据拟合生成各个预设温度条件下的容量损失曲线;利用容量损失曲线,计算以温度和循环圈数为自变量、容量损失率为因变量的容量损失预测标准方程;将目标温度代入容量损失预测标准方程,得到用于预测电池寿命的容量损失曲线。本发明提高了电池寿命的预测效率。
本发明授权一种电池寿命预测方法、装置、设备、介质及程序产品在权利要求书中公布了:1.一种电池寿命预测方法,其特征在于,所述方法包括: 获取多个同批次电池样本; 分别在多个不同的预设温度条件下对不同的电池样本进行充放电循环; 在充放电循环过程中,对所述电池样本提取各预设温度条件下、不同循环圈数对应的放电容量数据; 根据提取的所述放电容量数据拟合生成各个预设温度条件下的容量损失曲线,所述容量损失曲线用于表示随循环圈数而变化的容量损失率; 利用各个预设温度条件下的容量损失曲线,拟合以温度和循环圈数为自变量、容量损失率为因变量的容量损失预测标准方程; 获取待预测场景的目标温度,并将所述目标温度代入所述容量损失预测标准方程,得到在所述待预测场景下用于预测电池寿命的容量损失曲线,并通过所述容量损失曲线进行电池寿命预测; 所述方法还包括:在充放电循环过程中,以预设周期采集各预设温度条件下电池样本的厚度膨胀数据;从所述厚度膨胀数据中提取若干不同温度下循环圈数相同的膨胀子数据;根据所述膨胀子数据和相同条件下对应的放电容量数据确定电池样本的厚度容量关系,并得到厚度容量关系方程,所述厚度容量关系用于表示电池的厚度增长率和容量损失率之间的关系;将所述厚度容量关系方程代入所述容量损失预测标准方程,得到以温度和循环圈数为自变量、厚度增长率为因变量的厚度预测标准方程;将所述目标温度代入所述厚度预测标准方程,得到在所述待预测场景下用于预测电池寿命的厚度增长曲线,并通过所述厚度增长曲线进行电池寿命预测; 所述厚度容量关系方程为: 式中,表示容量损失率,表示厚度增长率,和为所述厚度容量关系方程的系数; 所述厚度预测标准方程为: 式中,表示循环圈数,表示温度,、、和为方程系数,表示厚度增长率,0表示基准循环温度,表示基准温度下厚度增长率。
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