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龙图腾网获悉北京航空航天大学;北京微电子技术研究所申请的专利一种集成电路可靠性测试数据分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120064937B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510230304.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种集成电路可靠性测试数据分析方法是由鹿靖;江军;季玉华;高鹏;郭梦洁;焦涛设计研发完成，并于2025-02-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种集成电路可靠性测试数据分析方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种集成电路可靠性测试数据分析方法，在测试数据分析的过程中采用第一权重值和第二权重值对数据进行处理，能够一定程度的对风险进行表征，进而对集成电路完全失效的造成的损失具有一定的预见性。一方面能够实现电数字数据处理，具体为与电路设计的类型或目的有的细节技术在集成电路测试领域的使用；另一方面，也能够说明也能够说明在该领域的技术挖掘还具有较为宽泛的扩展前景。

本发明授权一种集成电路可靠性测试数据分析方法在权利要求书中公布了：1.一种集成电路可靠性测试数据分析方法，其特征在于，所述方法包括： 基于预设的测试手段，对目标集成电路进行可靠性测试，将收集的数据，作为待分析数据； 基于所述待分析数据，确定执行所述可靠性测试经历的各个时刻中，所述目标集成电路的失效率； 确定第一转换时刻；所述第一转换时刻用于表征由早期失效向偶然失效进行转换的时间节点； 确定第二转换时刻；所述第二转换时刻是在所述第一转换时刻之后、所述失效率的曲线在预设的指定时长内出现斜率为正情况下，所述指定时长的起始时刻； 将执行所述可靠性测试的起始时刻至所述第一转换时刻之间的时间段，作为早期失效；将所述第一转换时刻和所述第二转换时刻之间的时间段，作为偶然失效；将所述第二转换时刻至执行所述可靠性测试的结束时刻之间的时间段，作为损耗失效； 确定第一权重值；所述第一权重值用于表征所述目标集成电路的缺陷对所述偶然失效造成的影响； 确定第二权重值；所述第二权重值用于表征所述目标集成电路的缺陷对所述目标集成电路的使用周期造成的影响；在所述使用周期的时长大于预设的使用周期阈值的情况下，所述第二权重值与所述第一转换时刻的失效率负相关； 在所述偶然失效的平均失效率小于预设的失效率阈值的情况下，若所述使用周期的时长大于所述使用周期阈值，则采用所述第一权重值和所述第二权重值对所述失效率进行加权，得到目标失效率； 基于所述目标失效率，得到所述目标集成电路的数据分析结果。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京航空航天大学;北京微电子技术研究所，其通讯地址为：100191 北京市海淀区学院路37号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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