买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉南通华隆微电子股份有限公司申请的专利一种半导体器件的插接检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120891348B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511403240.0，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种半导体器件的插接检测方法及系统是由郑剑华;苏建国;张元元;孙彬;朱建设计研发完成，并于2025-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体器件的插接检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种半导体器件的插接检测方法及系统，涉及半导体器件检测技术领域。方法包括：获得器件应用记录集；构建温湿异构场景组、机械冲击异构场景组和热冲击异构场景组；对半导体器件进行插接温湿异变检测，获得插接检测第一图谱；对半导体器件进行插接机械异变检测，获得插接检测第二图谱；对半导体器件进行插接热冲击异变检测，获得插接检测第三图谱；根据插接检测第一图谱、插接检测第二图谱和插接检测第三图谱，建立插接检测第四图谱。解决了现有技术中半导体器件插接检测场景单一，导致难以全面准确评估器件插接性能的技术问题，达到了通过引入多元异构检测场景，实现对半导体器件插接性能的全面准确评估的技术效果。

本发明授权一种半导体器件的插接检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件的插接检测方法，其特征在于，所述方法包括： 对半导体器件进行应用记录检索，获得器件应用记录集； 根据所述器件应用记录集进行多元检测场景寻优，构建温湿异构场景组、机械冲击异构场景组和热冲击异构场景组； 搭建插接性能异变追溯通道，并基于所述插接性能异变追溯通道和所述温湿异构场景组对所述半导体器件进行插接温湿异变检测，获得插接检测第一图谱； 基于所述插接性能异变追溯通道，根据所述机械冲击异构场景组对所述半导体器件进行插接机械异变检测，获得插接检测第二图谱； 基于所述插接性能异变追溯通道，根据所述热冲击异构场景组对所述半导体器件进行插接热冲击异变检测，获得插接检测第三图谱； 根据所述插接检测第一图谱、所述插接检测第二图谱和所述插接检测第三图谱，建立插接检测第四图谱； 针对温湿特征，结合器件在不同湿度、温度区间下的运行状态，对各温湿组合条件进行触发度计算和耦合度评价，并通过扰动优化方法筛选出对插接性能影响显著的特征组合，构成温湿异构场景组；针对机械冲击特征，通过对不同冲击强度、冲击频率及作用方向的记录样本进行聚类分析与异常分布检出，形成可反映多种机械应力条件的机械冲击异构场景组；针对热冲击特征，结合器件在快速升温与降温循环过程中的记录样本，执行热循环幅度与速率的综合寻优，生成能够覆盖多类温度突变条件的热冲击异构场景组。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人南通华隆微电子股份有限公司，其通讯地址为：226000 江苏省南通市通州区兴东镇孙李桥村西八组；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。