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龙图腾网获悉长沙精智达电子技术有限公司申请的专利一种针对微显示器件的多通道老化测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120928101B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511470572.0，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权一种针对微显示器件的多通道老化测试系统是由张悦;曹保桂;侯振;刘浩设计研发完成，并于2025-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种针对微显示器件的多通道老化测试系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种针对微显示器件的多通道老化测试系统，用于提高微显示器件老化测试系统的通用性和生产线的换线效率。本申请系统包括：主控单元、若干个FPGA单元、多通道电源集群单元和PPMU单元；主控单元与FPGA单元连接，主控单元用于接收外部指令，并控制若干个FPGA单元对不同型号的微显示器件执行测试流程；FPGA单元用于为微显示器件提供可编程的控制信号，多通道电源集群单元用于为微显示器件提供多路通道的可编程恒压源，PPMU单元用于为微显示器件提供微安级别的恒流源及电压回采；PPMU单元对接口施加预设的微安级别恒定电流并回采电流作用在接口所产生的响应电压，以进行开短路检测。

本发明授权一种针对微显示器件的多通道老化测试系统在权利要求书中公布了：1.一种针对微显示器件的多通道老化测试系统，其特征在于，所述多通道老化测试系统包括：主控单元、若干个FPGA单元、多通道电源集群单元和PPMU单元； 所述主控单元与所述FPGA单元连接，所述主控单元用于接收外部指令，并控制所述若干个FPGA单元对不同型号的微显示器件执行测试流程； 所述FPGA单元用于根据所述测试流程为所述微显示器件提供可编程的控制信号，所述FPGA单元与所述多通道电源集群单元和所述PPMU单元连接，所述多通道电源集群单元用于为所述微显示器件提供多路通道的可编程恒压源，所述PPMU单元用于为所述微显示器件提供微安级别的恒流源及电压回采； 所述多通道电源集群单元的每一路恒压源均包括前级Buck电源、后级线性电源以及远程补偿电路，所述FPGA单元控制所述前级Buck电源和所述后级线性电源协同工作，并通过所述远程补偿电路对接口远端的电压损耗进行实时补偿；其中，当需要输出指定电压时，所述FPGA单元通过数字模拟转换器控制所述前级Buck电源输出高于所述指定电压的稳定电压，并将所述稳定电压送入所述后级线性电源，所述后级线性电源在所述FPGA单元的控制下将所述稳定电压调整至所述指定电压并滤除来自所述前级Buck电源的开关纹波； 在预检测阶段，所述FPGA单元将所述微显示器件的接口连接至所述PPMU单元，通过所述PPMU单元对所述接口施加预设的微安级别恒定电流并回采电流作用在所述接口所产生的响应电压，以判断所述接口是否存在开路或短路缺陷； 在老化测试阶段，当确定所述接口不存在开路和短路缺陷后，所述FPGA单元将所述接口连接至所述多通道电源集群单元，通过所述多通道电源集群单元和所述FPGA单元为所述微显示器件提供对应的老化测试电压及控制信号以进行老化测试。

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