西安理工大学高翔获国家专利权
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龙图腾网获悉西安理工大学申请的专利一种用于电气设备中小目标的检测方法及终端获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121010939B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511548845.9,技术领域涉及:G06V20/50;该发明授权一种用于电气设备中小目标的检测方法及终端是由高翔;杜嘉璇;刘兴华;贾朵薇;李欣诺设计研发完成,并于2025-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于电气设备中小目标的检测方法及终端在说明书摘要公布了:本发明具体涉及一种用于电气设备中小目标的检测方法及终端,所述的检测方法包括:S100、获取原始图像;S200、输入所述的原始图像至目标检测模型;S300、所述的目标检测模型处理所述的原始图像,以输出标记图像;所述的处理包括:预处理、局部化处理、框选和分类。本发明针对现有技术中复杂背景下小目标识别效果不理想、精度低、处理速度慢等技术问题,至少具备识别可靠、精度高、处理快、抗干扰能力强等优点。
本发明授权一种用于电气设备中小目标的检测方法及终端在权利要求书中公布了:1.一种用于电气设备中小目标的检测方法,其特征在于,包括: S100、获取原始图像; S200、输入所述原始图像至目标检测模型; S300、所述目标检测模型处理所述原始图像,以输出标记图像; 所述处理包括:预处理、局部化处理、框选和分类; 其中, 所述局部化处理包括: S321、将预处理后的图像输入至head层,以通过卷积操作提取纹理和边缘信息; S322、依次通过至少两个残差层进行特征提取,任一残差层均经由FPN网络进行采样并逐层进行多尺度融合,以生成相应的特征图; 所述特征提取包括: S322a、经由第一残差卷积块,以扩展特征信息的维度; S322b、经由第二残差卷积块,以提取所述特征信息; S322c、经由第三残差卷积块,进一步扩展所述特征信息的维度; S322d、经由SE注意力机制,对所述特征信息进行关注。
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