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龙图腾网获悉长春弗睿德光电科技有限公司申请的专利基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121185429B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511411736.2，技术领域涉及：G01J5/00；该发明授权基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法是由李周;东旸;韩红;韩治岐设计研发完成，并于2025-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法在说明书摘要公布了：本发明涉及红外光电探测领域，尤其涉及一种基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法，包括：将红外成像系统对准定标黑体；采集不同定标黑体温度、不同积分时间下的图像灰度值；计算定标黑体不同温度所对应的辐射亮度值；基于图像灰度值和辐射亮度值，拟合得到每个像素点的定标系数；根据每个像素点的定标系数，计算所有像素点的平均定标系数；基于所有像素点的平均定标系数，计算每个像素点的系数偏移量；每个像素点的系数偏移量，计算每个像素点的系数偏移比率；将系数偏移比率满足预设异常条件的像素点判定为坏元。本方法通过多温度点、多积分时间下的辐射标定，实现对坏元的动态、高精度识别，提升红外成像系统的适应性与可靠性。

本发明授权基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于红外辐射定标数据的红外焦平面阵列坏元检测方法，其特征在于，包括如下步骤： S1：将红外成像系统对准标准扩展源定标黑体； S2：采集不同标准扩展源定标黑体温度、不同积分时间下的图像灰度值； S3：基于第一辐射常数和第二辐射常数，分别计算标准扩展源定标黑体不同温度所对应的辐射亮度值；辐射亮度值的计算公式为： ； 其中，表示辐射亮度值；表示第一辐射常数；表示第二辐射常数；表示红外成像系统工作波段的中心波长；表示标准扩展源定标黑体的温度； S4：建立积分时间定标方程，基于采集得到的图像灰度值和计算得到的辐射亮度值，拟合得到每个像素点的定标系数；其中，每个像素点的定标系数包括增益系数、与积分时间相关的动态偏置系数及与积分时间无关的静态偏置系数；建立的积分时间定标方程为： ； 其中，表示积分时间；表示每个像素点的增益系数；表示每个像素点的动态偏置系数；表示每个像素点的静态偏置系数；表示辐射亮度值；表示在标准扩展源定标黑体温度和积分时间下，每个像素点的图像灰度值； 增益系数为辐射亮度变化时，图像灰度值随之变化的比例关系； 动态偏置系数为积分时间变化时，像素点不依赖辐射亮度的偏移量； 静态偏置系数为像素点不受积分时间影响的固有偏移量； S5：根据拟合得到的每个像素点的定标系数，计算所有像素点的平均定标系数；其中，平均定标系数包括平均增益系数、平均动态偏置系数、平均静态偏置系数； S6：基于所有像素点的平均定标系数，计算每个像素点的系数偏移量；其中，每个像素点的系数偏移量包括增益系数与平均增益系数的偏移量、动态偏置系数与平均动态偏置系数的偏移量、静态偏置系数与平均静态偏置系数的偏移量； S7：基于每个像素点的系数偏移量，计算每个像素点的系数偏移比率；其中，每个像素点的系数偏移比率包括增益系数的偏移比率、动态偏置系数的偏移比率、静态偏置系数的偏移比率，若某个像素点的增益系数的偏移比率、动态偏置系数的偏移比率及静态偏置系数的偏移比率中任意一个满足预设异常条件，则判定该像素点为坏元。

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