西安简矽技术有限公司杨朔获国家专利权
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龙图腾网获悉西安简矽技术有限公司申请的专利空指针缺陷的检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121277840B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511848400.2，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权空指针缺陷的检测方法、装置、电子设备及存储介质是由杨朔设计研发完成，并于2025-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本空指针缺陷的检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种空指针缺陷的检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于软件测试技术领域，该空指针缺陷的检测方法包括：构建目标数据结构中指针间的可访问性依赖关系；基于可访问性依赖关系，生成至少一个测试场景，其中，每个测试场景定义了指针空或者非空组合，且指针空或者非空组合满足可访问性依赖关系。能够高效地检测复杂软件数据结构中的空指针访问缺陷。
本发明授权空指针缺陷的检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种空指针缺陷的检测方法，其特征在于，所述空指针缺陷的检测方法包括： 构建目标数据结构中指针间的可访问性依赖关系； 基于所述可访问性依赖关系，生成至少一个测试场景，其中，每个测试场景定义了指针空或者非空组合，且所述指针空或者非空组合满足所述可访问性依赖关系； 所述构建目标数据结构中指针间的可访问性依赖关系，包括： 以所述目标数据结构为根节点，构建指针依赖图，所述指针依赖图的每个节点对应所述目标数据结构中的一个指针变量，所述指针依赖图的边表示所述指针变量之间的可访问性依赖； 所述基于所述可访问性依赖关系，生成至少一个测试场景，包括： 获取所述指针依赖图的拓扑排序列表； 按照所述拓扑排序列表的顺序，遍历所述指针依赖图中的节点，以得到所述指针空或者非空组合。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人西安简矽技术有限公司，其通讯地址为：710000 陕西省西安市高新区天谷八路156号软件新城研发基地二期A9幢202室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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