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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利分视场二次成像系统中继后组与探测器辅助精密装调方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121348585B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511935168.6，技术领域涉及：G02B27/62；该发明授权分视场二次成像系统中继后组与探测器辅助精密装调方法是由刘智颖;李芸烈;高天元设计研发完成，并于2025-12-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本分视场二次成像系统中继后组与探测器辅助精密装调方法在说明书摘要公布了：分视场二次成像系统中继后组与探测器的装调方法，属于光学系统技术领域，为了解决现有技术存在的多级复杂成像光学系统，中继后组与探测器安装时，难以对探测器位姿进行可视化与定量化装调的问题，该方法包括以下步骤：步骤1，安装模拟器：在共用成像前组的一次像面位置处安装模拟器；步骤2，固定光源：将辅助光源固定在模拟器的正前方，使其能够均匀照射整个模拟器表面；步骤3，调整光源：调整辅助光源的亮度和照射角度，确保四个透光小孔和透光十字线能够通过分视场中继后组一清晰成像于探测器一上；步骤4，调整探测器一的轴向位置：步骤5，调整探测器一的旋转；步骤6，调整探测器一的平移。该方法实现了可视化和定量化装调。

本发明授权分视场二次成像系统中继后组与探测器辅助精密装调方法在权利要求书中公布了：1.分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调方法，其特征是， 该方法所基于分视场二次成像系统，该系统包括共用成像前组1、三个分视场中继后组3和三个探测器4，所述共用成像前组1将物体成像至一次像面；所述三个分视场中继后组3对一次像面进行视场分割，并且三个分视场中继后组3将分割后的独立视场二次成像至对应的探测器4上；当分视场二次成像系统中继后组探测器辅助精密装调时，模拟器2放置在所述一次像面处； 所述模拟器2包括四个螺钉孔2-1、十二个透光小孔2-2、三个透光十字线2-3； 所述模拟器2的基底曲率半径按共用成像前组1的残留场曲参数设计，其弯曲特征与空间位置与光学系统一次像面的弯曲特征与空间位置相同； 所述螺丝孔2-1分布于模拟器2的四角处，用于与分视场中继后组3固定连接； 所述十二个透光小孔2-2分别对应三个探测器4的四角布设，确保各分视场的覆盖； 所述三个透光十字线2-3按各分视场一次像面像高刻印，以便于对成像位置进行校准和对齐； 该方法包括以下步骤： 步骤1，安装模拟器； 在共用成像前组1的一次像面位置处安装模拟器2； 步骤2，固定光源； 将辅助光源5固定在模拟器2的正前方，使其能够均匀照射整个模拟器2表面； 步骤3，调整光源； 调整辅助光源5的亮度和照射角度，确保四个透光小孔2-2和透光十字线2-3通过分视场中继后组一3-1能够清晰成像于探测器一4-1上； 步骤4，调整探测器一4-1的轴向位置； 使用辅助光源5对模拟器2进行照明，不断移动探测器一4-1的轴向位置，测试四个透光小孔2-2在探测器一4-1上的成像效果，当成像清晰时，实现对探测器4-1轴向位置的调整，从而固定探测器一4-1位于像面位置； 步骤5，调整探测器一4-1的旋转； 使用辅助光源5对模拟器2进行照明，模拟器2上透光十字线2-3在探测器一4-1上成像，通过该成像沿探测器一4-1水平方向的高低像素位置偏差与垂直方向的左右位置偏差，定量反馈探测器一4-1位姿旋转的调整方向与调整量，当调整为该成像沿探测器一4-1水平方向的高低像素位置偏差与垂直方向的左右位置无偏差时，即可认为探测器一4-1的旋转调整完毕； 步骤6，调整探测器一4-1的平移； 使用辅助光源5对模拟器2进行照明，模拟器2上透光十字线2-3在探测器一4-1上成像，在步骤5的基础上，通过该成像相对中心位置的偏差调整探测器一4-1位姿平移的调整方向与调整量，当调整为该成像相对中心位置的偏差为零时，即可认为探测器一4-1的平移调整完毕。

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